[发明专利]目标检测方法、模型训练方法、装置、介质和电子设备

权利要求书

1.一种目标检测方法，包括：

根据目标图像的M个目标特征图中的第一目标特征图，得到N个初始特征图，其中，N个所述初始特征图的尺寸彼此不同，N为大于1的整数，M为大于1的整数；

根据所述初始特征图的偏移信息，从M个所述目标特征图中提取与所述初始特征图对应的M个采样特征图；

将N个所述初始特征图各自的M个采样特征图融合，得到N个融合特征图；以及

根据N个所述融合特征图进行目标检测，得到所述目标图像的检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据目标图像的M个目标特征图中的第一目标特征图，得到N个初始特征图包括：

对所述目标图像进行多级特征提取，得到M个所述目标特征图；以及

对所述第一目标特征图进行N次采样，得到N个所述初始特征图。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述初始特征图的偏移信息，从M个所述目标特征图中提取与所述初始特征图对应的M个采样特征图包括：

对所述初始特征图进行卷积，得到所述初始特征图的所述偏移信息，其中，所述偏移信息包括所述初始特征图中多个初始特征点各自的偏移值；

根据所述偏移信息，从M个所述目标特征图中提取与所述初始特征图对应的M个采样特征图。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述初始特征图的偏移信息，从M个所述目标特征图中提取与所述初始特征图对应的M个采样特征图包括：

根据所述偏移信息，对M个所述目标特征图分别进行插值，得到M个插值特征图；

根据所述偏移信息，从M个所述插值特征图中提取与所述初始特征图对应的M个所述采样特征图，其中，与所述初始特征图对应的M个所述采样特征图的尺寸与所述初始特征图的尺寸一致。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述将N个所述初始特征图各自的M个采样特征图融合，得到N个融合特征图包括：

根据M个所述采样特征图各自的预设权重，对M个所述采样特征进行加权融合，得到所述融合特征图。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述检测结果包括所述目标图像中目标对象的检测框和所述目标对象的类别，所述检测框用于指示所述目标对象在所述目标图像中所处的位置。

7.一种目标检测模型的训练方法，所述目标检测模型包括特征提取网络、特征生成网络和检测网络，所述方法包括：

将所述样本图像输入所述特征提取网络，得到所述样本图像的M个目标特征图，其中，M为大于1的整数；

利用所述特征生成网络对M个目标特征图执行以下操作，得到N个融合特征图：

根据M个所述目标特征图中的第一目标特征图，得到N个初始特征图，其中，N个所述初始特征图的尺寸彼此不同，N为大于1的整数；

根据所述初始特征图的偏移信息，从M个所述目标特征图中提取与所述初始特征图对应的M个采样特征图；

将N个所述初始特征图各自的M个采样特征图融合，得到N个融合特征图；

将N个所述融合特征图输入所述检测网络，得到所述样本图像的检测结果；以及

根据所述检测结果和所述样本图像的标签，训练所述目标检测模型。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述根据M个所述目标特征图中的第一目标特征图，得到N个初始特征图包括：

对所述第一目标特征图进行N次采样，得到N个所述初始特征。

9.根据权利要求7所述的方法，其中，所述特征生成网络包括卷积单元，

所述根据所述初始特征图的偏移信息，从M个所述目标特征图中提取与所述初始特征图对应的M个采样特征图包括：

利用所述卷积单元对所述初始特征图进行卷积，得到所述初始特征图的所述偏移信息，其中，所述偏移信息包括所述初始特征图中多个初始特征点各自的偏移值；

根据所述偏移信息，从M个所述目标特征图中提取与所述初始特征图对应的M个采样特征图。