[发明专利]测试和测量仪器中频谱和谱图属性的自动确定在审

专利信息
申请号: 202310046194.8 申请日: 2023-01-13
公开(公告)号: CN116430117A 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: G·J·沃尔多;A·E·沃尔克;B·T·希克曼 申请(专利权)人: 特克特朗尼克公司
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16;G01R1/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 毕铮;吕传奇
地址: 美国俄*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测试 测量 仪器 频谱 属性 自动 确定
【权利要求书】:

1.一种测试和测量仪器,包括:

用于从输入信号产生第一谱图图像的谱图生成器;

用于示出谱图图像的显示器;

结合显示器操作的用户接口,用户接口包括一个或多个用户可控输入,并且用户接口被配置为检测用户动作;以及

谱图生成器,被结构化成基于由用户接口检测到的用户动作来产生不同于第一谱图图像的第二谱图图像。

2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中第二谱图图像具有与第一谱图图像不同的时间分辨率。

3.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中第二谱图图像具有与第一谱图图像不同的垂直行数。

4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中用户接口是图形用户接口,并且其中用户动作是将呈现在显示器上的元素从显示器上的第一位置移动到第二位置。

5.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中用户接口是图形用户接口,并且其中用户动作是改变显示器上其中显示第一谱图图像的窗口的大小。

6.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中用户接口是字符接口,并且其中用户动作是通过在字符接口中录入值来指定显示器上其中显示第一谱图图像的窗口的大小。

7.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中第一谱图从一个或多个频谱块生成,其中一个或多个频谱块中的每一个为构成第一谱图的相应像素行指定像素值。

8.根据权利要求7所述的测试和测量仪器,其中一个或多个频谱块从采集样本生成,并且其中来自采集样本的数据与两个相邻的频谱块重叠。

9.根据权利要求8所述的测试和测量仪器,其中第二谱图图像在生成第二谱图图像中使用的两个相邻频谱块之间具有的重叠程度不同于在生成第一谱图图像中使用的两个相邻频谱块之间的重叠程度。

10.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中谱图图像出现在具有频率作为横轴的显示器的第一窗口中,并且进一步包括具有时间作为横轴的显示器的第二窗口中的波形视图。

11.根据权利要求10所述的测试和测量仪器,进一步包括覆盖在波形视图上的缩放窗口,其中输入信号的一部分从缩放窗口排除。

12.根据权利要求11所述的测试和测量仪器,其中用户动作包括选择要覆盖在波形视图上的缩放窗口。

13.根据权利要求11所述的测试和测量仪器,其中用户动作包括调整缩放窗口的大小。

14.根据权利要求12所述的测试和测量仪器,其中第二谱图图像仅从输入信号的包括在缩放窗口内的部分产生。

15.一种在包括显示器的测试和测量仪器中的方法,所述方法包括:

从由测试和测量仪器采集的输入信号在显示器上具有第一窗口大小的显示窗口中生成第一谱图图像;

接受来自用户的输入以将第一窗口大小调整到不同于第一窗口大小的第二窗口大小;以及

从由测试和测量仪器采集的输入信号在显示器上自动生成第二谱图图像以基于来自用户的输入填充第二窗口。

16.根据权利要求15所述的方法,其中第一谱图图像的每一行从个体频谱块产生,并且其中自动生成第二谱图图像包括通过改变来自输入信号的重叠在两个相邻频谱块之间的数据量来修改第一谱图图像。

17.根据权利要求15所述的方法,其中自动生成第二谱图图像包括生成具有与第一谱图图像不同的时间分辨率的第二谱图图像。

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