[发明专利]一种BLDC电机生产线快速检验系统及控制方法

说明书

本发明提供了一种BLDC电机生产线快速检验系统及控制方法，包括：自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；触检驱动自动控制分系统，进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。

技术领域

本发明涉及电机精密检测自动智能控制技术领域，更具体地说，本发明涉及一种BLDC电机生产线快速检验系统及控制方法。

背景技术

目前，BLDC电机生产线检验多以各部件独立检验为主，检验过程的自适应智能化程度不高，对于大规模快速检验的技术问题尚待提高；主要问题包括：如何对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验、如何驱动大规模检验自巡触点探针阵并获取触检驱动检验控制数据、如何实现触检驱动自适应逻辑控制、如何进行生产交互快速检验及如何快速生成BLDC电机检验参数等问题尚待解决；因此，有必要提出一种BLDC电机生产线快速检验系统及控制方法，以至少部分地解决现有技术中存在的问题。

发明内容

在发明内容部分中引入了一系列简化形式的概念，这将在具体实施方式部分中进一步详细说明；本发明的发明内容部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征，更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。

为至少部分地解决上述问题，本发明提供了一种BLDC电机生产线快速检验系统，包括：

自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；

检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；

触检驱动自动控制分系统，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；

BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。

优选的，自巡触点规模检验探针阵分系统，包括：

BLDC电机部件触点数据子系统，搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；

自巡触点探针设置子系统，根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；

探针自巡触点对接子系统，通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验。

优选的，检测探针触压触检驱动分系统，包括：

触点探针排布路径子系统，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；

集散排布快检路径子系统，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；