[发明专利]存储器健康状态确定方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种存储器健康状态确定方法，其特征在于，所述方法包括：

获取目标存储器的运行信息；其中，所述运行信息包括多种存储器参数对应的参数值；

基于所述运行信息进行特征提取，得到存储器特征；

将所述存储器特征输入分类模型，得到所述分类模型输出的故障置信度；其中，所述分类模型基于神经网络模型训练得到，所述故障置信度用于表征所述目标存储器的不健康程度；

基于所述故障置信度确定所述目标存储器的健康状态；

所述基于所述运行信息进行特征提取，得到存储器特征，包括：

基于所述运行信息生成参数特征；

基于所述参数特征，确定所述目标存储器对应的存储器特征；

所述基于所述运行信息生成参数特征，包括：

将所述运行信息中的参数值，按照预设顺序组合，得到中间特征向量；

对所述中间特征向量中的第一特征元素进行归一化处理，得到所述参数特征；

所述基于所述参数特征，确定所述目标存储器对应的存储器特征，包括：

基于所述参数特征中的第二特征元素，确定所述参数特征中各个特征维度对应的特征值；

基于所述特征值与所述第二特征元素确定第三特征元素；其中，所述第二特征元素与所述第三特征元素存在一一对应关系；

按照所述第二特征元素在所述参数特征中的排列顺序，组合所述第二特征元素对应的所述第三特征元素，得到所述存储器特征。

2.根据权利要求1所述的存储器健康状态确定方法，其特征在于，所述获取目标存储器的运行信息，包括：

获取所述目标存储器的自我监测分析及报告技术信息和所述多种存储器参数对应的目标参数标识；

基于所述目标参数标识从所述自我监测分析及报告技术信息中获取所述运行信息。

3.根据权利要求1所述的存储器健康状态确定方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述运行信息中包含缺失参数值的情况下，从用于训练所述分类模型的模型训练样本中，获取所述缺失参数值的存储器参数对应的样本参数值；

基于所述样本参数值计算平均参数值，采用所述平均参数值填充所述缺失参数值。

4.根据权利要求1所述的存储器健康状态确定方法，其特征在于，所述存储器参数包括底层数据读取错误率、主轴起旋时间、重映射扇区数、寻道错误率、通电时间累计、无法校正的错误、高飞写入、温度、硬件错误检查和纠正校正信息、读取错误块计数、脱机无法校正的扇区计数中的多种。

5.根据权利要求1所述的存储器健康状态确定方法，其特征在于，所述健康状态包括正常状态和异常状态，所述异常状态表征所述目标存储器在目标时间区间中会发生故障，所述基于所述故障置信度确定所述目标存储器的健康状态，包括：

在所述故障置信度大于第一阈值的情况下，确定所述目标存储器的健康状态为所述异常状态；

在所述故障置信度小于或等于所述第一阈值的情况下，基于所述目标存储器对应的历史置信度和所述故障置信度，确定所述目标存储器的健康状态。

6.根据权利要求5所述的存储器健康状态确定方法，其特征在于，所述基于所述目标存储器对应的历史置信度和所述故障置信度，确定所述目标存储器的健康状态，包括：

根据所述第一阈值、所述故障置信度和所述历史置信度，确定筛选指标；

在所述筛选指标大于第二阈值的情况下，确定所述目标存储器的健康状态为所述异常状态；

在所述筛选指标小于或等于所述第二阈值的情况下，确定所述目标存储器的健康状态为所述正常状态。

7.根据权利要求6所述的存储器健康状态确定方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述目标存储器不存在历史置信度的情况下，确定所述目标存储器的健康状态为所述正常状态。