[发明专利]一种背钻深度无损检测方法在审

专利信息
申请号: 202310073277.6 申请日: 2023-02-07
公开(公告)号: CN116295086A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 刘继承;翟翔;王玲玲 申请(专利权)人: 惠州市骏亚精密电路有限公司
主分类号: G01B11/22 分类号: G01B11/22
代理公司: 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 代理人: 占龙凤
地址: 516000 广东省惠州市惠城*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 深度 无损 检测 方法
【说明书】:

本发明涉及印刷电路板技术领域,具体涉及一种背钻深度无损检测方法;本发明所提供的方法,首先取待检测的PCB板,将PCB板置于设置有激光探测器的操作台上,由激光探测器对PCB板进行激光探测,收集激光探测数据,并根据所探测的数据构建三维模型,再收集PCB板的设计数据资料,获取设计模型,将虚拟的三维模型与设计模型进行对比,完成对于背钻深度的无损检测,本发明所提供的方法,通过该检测方法直接检测背钻深度,从而实现了在不破坏工作板的前提下,有效地提高了检测效率同时,减少了辅材的使用,实现节能降耗的效果,改变了传统,对于深度不合格的背钻板,在生产过程中难于判断,靠切片来量测判断的方式。

技术领域

本发明涉及印刷电路板技术领域,具体涉及一种背钻深度无损检测方法。

背景技术

印制电路板(Printed circuit boards),又称印刷电路板,是电子元器件电气连接的提供者。随着数字信号传输的速度越来越快,频率越来越高,信号的完整性传输研究成为PCB越来越关键的重要核心技术。其中,背钻技术是为了解决PTH孔内多余镀铜产生的EMI类问题,保证信号完整性而提出的PCB钻孔技术。

专利申请号为CN201310512229.9的专利,其在说明书中记载有“,该方法为:确定待测背钻孔,在印制电路板PCB上钻取与待测背钻孔相同形状的测试背钻孔;在测试背钻孔旁钻取一个观察孔,其中,观察孔的孔边与测试背钻孔的孔边相交;通过观察孔读取测试背钻孔的铜层层数,获得读取结果;将读取结果作为待测背钻孔的背钻深度。使用该方法在浪费资源较少的情况下,可以对每一块PCB上每一种类型的背钻孔一一进行测试,提高了PCB上背钻孔的质量,进而提高整个PCB的质量,在背钻孔制作流程当时就能对整批产品进行检测,提高了背钻过程中对背钻深度检查的及时性和有效性”,上述专利虽然能够实现背钻深度检测,但是其需要在印制电路板PCB上钻取与待测背钻孔相同形状的测试背钻孔,并在测试背钻孔旁钻取一个观察孔,会对印制电路板PCB造成损伤。

又如专利申请号为“CN201910894075.1”的专利,其在说明书中记载有“通过在PCB制作单元旁设计背钻检测模块,所述背钻检测模块包括第一检测孔至第四检测孔、背钻孔,以及自上而下依次设置的Top层、精度检测层、钻穿层、不可钻穿层和Bottom层,通过第一检测孔至第四检测孔对背钻孔在精度检测层、钻穿层和不可钻穿层分别进行背钻检测,所述第一检测孔和第二检测孔用于精度检测层的背钻精度检测,所述第三检测孔用于钻穿层的钻穿检测,所述第四检测孔用于不可钻穿层的不钻穿检测。本发明PCB背钻无损检测方法适用所有背钻类PCB检测,在不影响客户的产品设计的情况下对背钻类PCB进行出货前背钻深度、钻穿层次和背钻精度进行检测,其检测可监控每块交货板的背钻品质,有效避免不良品流入客户端,同时避免切片导致的PCB报废”,上述专利虽然不会对印制电路板PCB造成损伤,但是整个过程复杂,且不适用于大规模、快速的检测,无法满足使用需求。

综上所述,研发一种背钻深度无损检测方法,是印刷电路板技术领域中急需解决的关键问题。

发明内容

针对现有技术所存在的上述缺点,本发明在于提供一种背钻深度无损检测方法,本发明所提供的方法,通过该检测方法直接检测背钻深度,从而实现了在不破坏工作板的前提下,有效地提高了检测效率同时,减少了辅材的使用,实现节能降耗的效果,改变了传统,对于深度不合格的背钻板,在生产过程中难于判断,靠切片来量测判断的方式。

为实现上述目的,本发明提供了如下技术方案:

本发明提供了一种背钻深度无损检测方法,包括以下步骤:

(1)取待检测的PCB板,将PCB板置于设置有激光探测器的操作台上,由激光探测器对PCB板进行激光探测;

(2)收集激光探测数据,并根据所探测的数据构建三维模型;

(3)收集PCB板的设计数据资料,获取设计模型;

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