[发明专利]一种测试装置以及测试方法在审
申请号: | 202310078055.3 | 申请日: | 2023-01-29 |
公开(公告)号: | CN116312732A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 张凯;殷鹏;宋炜哲;高旭东 | 申请(专利权)人: | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 强珍妮 |
地址: | 710075 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 装置 以及 方法 | ||
1.一种测试装置,其特征在于,包括:
转接卡,所述转接卡用于接入待测内存,响应于所述待测内存插入所述转接卡,所述转接卡输出脉冲信号;
控制模块,与所述转接卡可拆卸连接,基于所述脉冲信号确定所述转接卡的使用参数,以及基于所述使用参数确定是否更换所述转接卡。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述转接卡包括:
插槽,所述插槽用于接入所述待测内存;
传感器组,连接所述插槽,在所述待测内存插入所述插槽时输出所述脉冲信号。
3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述传感器组包括:第一传感器和第二传感器;
在所述待测内存插入所述插槽时,所述第一传感器输出第一脉冲信号,所述第二传感器输出第二脉冲信号;或者在所述待测内存插入所述插槽时,所述第一传感器输出第一脉冲信号或所述第二传感器输出第二脉冲信号;
所述控制模块基于所述第一脉冲信号和/或所述第二脉冲信号确定所述使用参数。
4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述控制模块包括:
判断模块,响应于所述判断模块接收到所述第一脉冲信号和所述第二脉冲信号,则基于所述第一脉冲信号和所述第二脉冲信号的时间差确定所述待测内存插入所述插槽的方式,并基于所述方式输出第一检测信号或第二检测信号;
控制器,所述控制器连接所述判断模块,基于所述第一检测信号和所述第二检测信号进行计数,基于计数结果确定所述转接卡的使用参数。
5.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于,响应于所述判断模块确定所述时间差未超出预设范围,则确定所述待测内存以第一方式插入所述插槽,所述判断模块输出第一检测信号;以及
响应于所述判断模块确定所述时间差超出所述预设范围,则确定所述待测内存以第二方式插入所述插槽,所述判断模块输出第二检测信号;
所述控制器包括:第一计数器以及第二计数器,所述第一计数器基于所述第一检测信号进行计数,所述第二计数器基于所述第二检测信号进行计数;所述控制器基于所述第一计数器的计数结果与所述第二计数器的计数结果确定所述转接卡的使用参数。
6.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于,响应于所述判断模块仅接收到所述第一脉冲信号或者仅接收到所述第二脉冲信号,则输出所述第二检测信号;
其中,所述第一检测信号表征所述待测内存正常插入所述插槽,所述第二检测信号表征所述待测内存非正常插入所述插槽。
7.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:复位模块,所述复位模块用于在更换所述转接卡后将所述第一计数器以及所述第二计数器的技术结果清零。
8.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:显示模块,连接所述控制模块,用于显示所述转接卡的使用参数。
9.一种测试方法,其特征在于,包括:
响应于待测内存插入转接卡,所述转接卡输出脉冲信号;
基于所述脉冲信号确定所述转接卡的使用参数;
基于所述使用参数确定是否更换所述转接卡。
10.根据权利要求9所述的测试方法,其特征在于,所述基于所述脉冲信号确定所述转接卡的使用参数的步骤,包括:
响应于接收到第一脉冲信号和第二脉冲信号,则确定所述第一脉冲信号和所述第二脉冲信号的时间差是否超出预设范围;
若所述时间差未超出所述预设范围,则确定所述待测内存以第一方式插入所述插槽,输出第一检测信号;
若所述时间差超出所述预设范围,则确定所述待测内存以第二方式插入所述插槽,输出第二检测信号;或者仅接收到所述第一脉冲信号或者仅接收到所述第二脉冲信号,则输出所述第二检测信号;
第一计数器基于所述第一检测信号进行计数,第二计数器基于所述第二检测信号进行计数;
基于所述第一计数器的计数结果与所述第二计数器的计数结果确定所述转接卡的使用参数;
其中,所述第一检测信号表征所述待测内存正常插入所述插槽,所述第二检测信号表征所述待测内存非正常插入所述插槽。
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