[发明专利]一种寄存器的校验方法、装置及设备

说明书

本发明提供一种寄存器的校验方法、装置及设备，涉及汽车技术领域。所述方法，包括：获取当前需要校验的外部寄存器的配置数据；对所述配置数据进行循环移位校验处理，得到外部寄存器的实时校验值；将所述实时校验值与存储模块存储的初始校验值进行比对，获得比对结果；根据所述比对结果向中央处理器发送中断信号。本发明的方案实现了对外设寄存器的实时监测和快速校验。

技术领域

本发明涉及汽车技术领域，具体涉及一种寄存器的校验方法、装置及设备。

背景技术

在当下的汽车电子设计流程中，特别注重系统的功能安全设计，需要满足ISO26262标准，使产品满足不同的功能安全等级要求，而芯片内部的配置寄存器对于芯片特别是MCU（电机微控单元）来说，是其正常运行的基石，MCU内部有各种各样的外设模块，用户在对各个模块进行初始化配置后，一般不会更改，直至要主动改变某些工作模式时。而除此之外，从芯片外部来说，外部的各种电磁干扰，有可能会影响到内部电路的工作状态，引起内部配置寄存器的意外更改；从芯片内部而言，由于硬件随机故障的原因或者是MCU运行软件的异常运行，都可能引起内部配置寄存器的意外更改，这些都进一步引起外设工作异常，导致违反功能安全目标。为了减少意外的更改，现在在芯片内部一般会设计有寄存器锁步位，通过上锁的方法，能很好的减少一些意外的更改，但仅靠这种方式还不能达到比较高的功能安全等级的要求，正如前述一样，由于芯片外部或内部的异常工作条件，或是硬件随机故障的发生，仍然可以引起意外的修改，导致违反功能安全目标，系统的潜在故障率还不能达到ASIL-D（汽车安全性等级的最高级）的要求。为了克服这种情况，需要一种实时运行的检查机制，连续性的或是周期性对所有的配置寄存器进行扫描检查，一旦发生了意外更改，及时通知芯片的功能安全管理单元。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种寄存器的校验方法、装置及设备。实现了对外设寄存器的实时监测和快速校验。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案如下：

本发明的实施例提供一种寄存器的校验方法，包括：

获取当前需要校验的外部寄存器的配置数据；

对所述配置数据进行循环移位校验处理，得到外部寄存器的实时校验值；

将所述实时校验值与存储模块存储的初始校验值进行比对，获得比对结果；

根据所述比对结果向中央处理器发送中断信号。

可选的，获取当前需要校验的外部寄存器的配置数据，包括：

通过存储访问控制器获取当前需要校验的外部寄存器的配置数据。

可选的，通过存储访问控制器获取当前需要校验的外部寄存器的配置数据，包括：

按照定时器单元设置的定时周期，通过存储访问控制器周期性获取当前需要校验的外部寄存器的配置数据。

可选的，对所述配置数据进行循环移位校验处理，得到外部寄存器的实时校验值，包括：

按照地址偏移规律，对所述配置数据进行地址循环移位一预设比特位，得到外部寄存器的实时校验值。

可选的，所述存储模块存储的初始校验值通过以下过程获得：

在存储访问控制器启动时，通过所述存储访问控制器获取至少两个外部寄存器的配置数据；

通过地址掩码模块对所述至少两个外部寄存器中不需要校验的外部寄存器进行过滤，得到需要校验的外部寄存器；

按照地址偏移规律，对需要校验的外部寄存器的配置数据进行地址循环移位一预设比特位，得到需要校验的外部寄存器的初始校验值。

可选的，通过地址掩码模块对所述至少两个外部寄存器中不需要校验的寄存器进行过滤，得到需要校验的外部寄存器，包括：

通过地址掩码模块对所述至少两个外部寄存器的地址分别进行掩码计算，得到多个掩码地址；

将所述掩码地址不在预设地址范围的寄存器进行过滤，得到需要校验的外部寄存器。