[发明专利]一种测试电路

说明书

本发明提供一种测试电路，包括：待测单元、第一电容、第二电容、电子保险丝及开合控制单元；待测单元的第一端连接第一电容的上极板，第二端连接第一电容的下极板和第二电容的下极板；电子保险丝连接于第一电容的上极板和第二电容的上极板之间，并受控于开合控制信号；开合控制单元用于对电子保险丝进行电信号采样得到采样信号，并根据采样信号和基准信号的比较结果产生开合控制信号，以在待测单元正常工作时控制电子保险丝闭合，在待测单元异常工作时控制电子保险丝打开；其中，第一电容的容值小于第二电容的容值。通过本发明提供的测试电路，解决了现有高压测试中因器件失效时常发生炸管的问题。

技术领域

本发明涉及半导体器件测试技术领域，特别是涉及一种测试电路。

背景技术

在半导体高压功率器件(如Si MOSFET、IGBT、SiC MOSFET等)测试中，尤其是短路耐量测试中，器件失效时有发生，且失效器件往往伴随母线电容上高压大电流的冲击，直到电容电放光或器件炸裂；在高压测试中，母线电容中的能量往往非常大，器件最终炸管经常难以避免，伴随爆炸声的同时还会有塑封外壳飞溅，因此必须做好足够安全的物理防护。

鉴于此，如何避免半导体高压功率器件在测试过程中因器件失效而发生炸裂，是本领域技术人员迫切需要解决的技术问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种测试电路，用于解决现有高压测试中因器件失效时常发生炸管的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种测试电路，所述测试电路包括：待测单元、第一电容、第二电容、电子保险丝及开合控制单元；

所述待测单元的第一端连接所述第一电容的上极板，第二端连接所述第一电容的下极板和所述第二电容的下极板；所述电子保险丝连接于所述第一电容的上极板和所述第二电容的上极板之间，并受控于开合控制信号；

所述开合控制单元用于对所述电子保险丝进行电信号采样得到采样信号，并根据所述采样信号和基准信号的比较结果产生所述开合控制信号，以在所述待测单元正常工作时控制所述电子保险丝闭合，在所述待测单元异常工作时控制所述电子保险丝打开；

其中，所述第一电容的容值小于所述第二电容的容值。

可选地，所述开合控制单元包括：采样模块及信号生成模块；

所述采样模块用于对所述电子保险丝进行电信号采样得到采样信号，并对所述采样信号和所述基准信号进行比较产生比较结果；

所述信号生成模块连接所述采样模块的输出端，用于在所述比较结果为低电平时屏蔽输入信号并产生打开控制信号，在所述比较结果为高电平时根据所述输入信号产生闭合控制信号。

可选地，所述电信号包括电流信号；所述采样模块包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻及第一比较器；

所述第一电阻连接于所述电子保险丝和所述第一电容之间；所述第二电阻的第一端连接所述电子保险丝和所述第一电阻的连接节点，第二端连接所述第一比较器的反相输入端；所述第三电阻和所述第四电阻串联后连接于第一基准电压和所述第一电容的上极板之间；所述第一比较器的正相输入端连接所述第三电阻和所述第四电阻的连接节点，输出端作为所述采样模块的输出端。

可选地，所述电信号包括电压信号；所述采样模块包括：第五电阻、第六电阻、第七电阻及第二比较器；

所述第五电阻连接于所述电子保险丝和所述第一电容之间；所述第六电阻和所述第七电阻串联后连接于所述第二电容的上极板和所述第一电容的上极板之间；所述第二比较器的正相输入端连接第二基准电压，反相输入端连接所述第六电阻和所述第七电阻的连接节点，输出端作为所述采样模块的输出端。

可选地，所述采样模块还包括：第一稳压管，并联于所述第七电阻的两端。