[发明专利]一种颗粒物来源分析方法、装置、终端及存储介质

说明书

本申请提供一种颗粒物来源分析方法、装置、终端及存储介质。包括：获取至少一个污染源的不同粒径的颗粒物的数浓度数据，并建立典型颗粒物排放源粒径谱库；监测预设时段的目标环境受体的颗粒物的数浓度数据；根据预设时段的目标环境受体的颗粒物的数浓度数据，基于正交矩阵因子解析模型，识别预设时段的目标环境受体中不同污染源的不同粒径段的第一贡献率；基于预设时段的目标环境受体中不同污染源的不同粒径段的颗粒物的第一贡献率，从典型颗粒物排放源粒径谱库中查找预设时段的目标环境受体中的大气颗粒物的污染源。本申请能够提高环境受体中的颗粒物的污染源解析结果的准确度。

技术领域

本申请涉及大气颗粒物来源分析技术领域，尤其涉及一种颗粒物来源分析方法、装置、终端及存储介质。

背景技术

针对城市大气中一次颗粒物，尤其是2.5μm-10μm的粗颗粒物的排放来源复杂，施工工地、裸土、道路扬尘、堆场以及工业排放等，且不同源由于其工程阶段或管控程度差异造成的污染排放也发生变化，这导致粗颗粒物在时空分布上有其独有的特征。随着大气环境管理的精细化要求的提高，仅仅基于受体解析技术分析PM2.5的来源已经不能满足对一次颗粒物排放源的精细化管理需求。

目前，对颗粒物来源进行解析的方法主要有源清单法、扩散模型法和受体模型法等，以受体模型法最为普及，而颗粒物来源丰富，仅仅基于受体解析技术分析PM10或PM2.5的来源已经不能满足对一次颗粒物排放源的精细化管理需求。在颗粒物精细化来源解析方面，可采用基于分级采样和实验室分析的方法，缺点在于采样周期长、时间分辨率低；另外，基于单颗粒扫描电镜SEM/TEM-EDS技术也可以获得颗粒的形貌、成分、粒径、混合状态等信息，通过颗粒物形貌分析进行颗粒物来源解析，其优势是可以实现分粒径的来源分析，缺点是采样时间长、时效性差，同样难以有效支撑精细化管控工作的开展。

面对当前颗粒物管理需求，迫切需要加强多种溯源、解析技术的综合应用，以获得分粒径的、更精细化的颗粒物来源解析结果，为开展一次颗粒物的全面监管和防控提供数据支撑。

发明内容

本申请提供了一种颗粒物来源分析方法、装置、终端及存储介质，以解决现有技术中对环境受体中的颗粒物的污染源解析结果不够精细化的问题。

第一方面，本申请提供了一种颗粒物来源分析方法，包括：

获取至少一个污染源的不同粒径的颗粒物的数浓度数据，并建立典型颗粒物排放源粒径谱库，其中，所述污染源包括道路尘、施工尘、尾气尘、燃烧源尘和工艺过程尘；所述典型颗粒物排放源粒径谱库包括任一污染源的不同粒径段的颗粒物的第一贡献率；所述第一贡献率为任一粒径段的颗粒物的数浓度数据在该污染源的颗粒物的数浓度数据中的占比；

监测预设时段的目标环境受体的颗粒物的数浓度数据；

根据所述预设时段的目标环境受体的颗粒物的数浓度数据，基于正交矩阵因子解析模型，识别所述预设时段的目标环境受体中不同污染源的不同粒径段的第一贡献率；

基于所述预设时段的目标环境受体中不同污染源的不同粒径段的颗粒物的第一贡献率，从所述典型颗粒物排放源粒径谱库中查找所述预设时段的目标环境受体中的大气颗粒物的污染源。

第二方面，本申请提供了一种颗粒物来源分析装置，包括：

建立模块，用于获取至少一个污染源的不同粒径的颗粒物的数浓度数据，并建立典型颗粒物排放源粒径谱库，其中，所述污染源包括道路尘、施工尘、尾气尘、燃烧源尘和工艺过程尘；所述典型颗粒物排放源粒径谱库包括任一污染源的不同粒径段的颗粒物的第一贡献率；所述第一贡献率为任一粒径段的颗粒物的数浓度数据在该污染源的颗粒物的数浓度数据中的占比；

监测模块，用于监测预设时段的目标环境受体的颗粒物的数浓度数据；