[发明专利]用于太阳电池电性能测试的接触装置

说明书

本发明涉及太阳电池的测试装置，具体涉及用于太阳电池电性能测试的接触装置，用于解决现有技术采用探针对细栅HJT太阳电池、TCOHJT太阳电池进行测试时，会存在探针戳破TCO层的风险，以及探针和细栅HJT太阳电池的细栅电极难以对准影响测试精度的不足之处。该用于太阳电池电性能测试的接触装置包括底座、金属丝层和透光弹性材料层；其中金属丝层包括多个导电性良好的金属丝，可以连通待测试太阳电池和测试电路，并实现和接触材料(细栅电极或者TCO)比较低的接触电阻；本发明通过底座、透光弹性材料层，将金属丝层压紧在待测试太阳电池测试面上，并使压力均匀分布；此外，透光弹性材料层可以尽量减少对入射的模拟太阳光的遮挡。

技术领域

本发明涉及太阳电池的测试装置，具体涉及用于太阳电池电性能测试的接触装置。

背景技术

传统异质节(HJT)太阳电池的表面设置有透明导电层(TCO)，TCO层上设置有金属电极，金属电极包括主栅电极和细栅电极。金属电极材质一般分为两种，一种是采用丝网印刷银浆并烘干方式制备的银电极，另一种是用电镀方式制备的铜电极。

对于具备表面金属电极的HJT太阳电池，可通过探针接触主栅电极，并在太阳电池表面模拟照射太阳光，来测试太阳电池在光照状态下电性能参数，并根据测试结果对HJT太阳电池进行筛选，具体筛选要求为：用于制作同一个组件中的HJT电池片电性能需要接近，以保证最佳发电性能。所述电性能参数包括光电转换效率，开路电压，短路电流，填充因子等。

为降低表面金属电极成本，现有HJT太阳电池通常选择去掉主栅电极，只保留细栅电极，将串联的导线直接附着于细栅电极表面，即构成细栅HJT太阳电池；进一步的，去掉细栅电极，将串联的导线直接附着于TCO层表面，使其具备表面电极及串联电极的双重功能，即TCOHJT太阳电池。

对于上述两种方案，采用探针测试HJT太阳电池的电性能参数时，存在以下技术问题：首先，对于细栅HJT太阳电池、TCOHJT太阳电池，均存在探针戳破TCO层的风险，此外，探针和细栅HJT太阳电池的细栅电极难以对准，影响测试精度。

发明内容

本发明的目的是解决现有技术采用探针对细栅HJT太阳电池、TCOHJT太阳电池进行测试时，会存在探针戳破TCO层的风险，以及探针和细栅HJT太阳电池的细栅电极难以对准影响测试精度的不足之处，而提供用于太阳电池电性能测试的接触装置。

为了解决上述现有技术所存在的不足之处，本发明提供了如下技术解决方案：

一种用于太阳电池电性能测试的接触装置，其特殊之处在于：包括底座、金属丝层和透光弹性材料层；

所述底座顶面设置有向待测试太阳电池突出的拱形结构，底座上放置待测试太阳电池，待测试太阳电池测试面上由下向上依次设置所述金属丝层和透光弹性材料层，所述金属丝层覆盖待测试太阳电池测试面，用于和待测试太阳电池测试面实现欧姆接触，所述透光弹性材料层用于通过外部拉伸将金属丝层压紧在待测试太阳电池测试面上，透光弹性材料层固定于第二框架内；

所述金属丝层包括多个等间距平行分布的金属丝，金属丝层固定于第一框架内，金属丝上设置有镀层，金属丝的材质为金或银或铜或铜合金，镀层的材质为金或银或镍或锡。

进一步地，所述金属丝层用于设置于待测试太阳电池测试面的细栅电极上，金属丝之间的间距为5-10毫米，金属丝的直径100-350微米。金属丝根据待测试太阳电池的测试需求设置，金属丝用于收集待测试太阳电池测试面的表面电流，首先设置金属丝的间距，间距越小，收集电流效率越高，但对待测试太阳电池入射光的遮挡越多；若待测试太阳电池的导电性较好，金属丝的间距可相对增大。

进一步地，所述金属丝层用于直接与待测试太阳电池测试面的TCO层接触，所述金属丝之间的间距为1-3毫米，金属丝的直径50-100微米。