[发明专利]一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法

权利要求书

1.一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

a)根据第一测试系统，获取仪表的噪声温度；

b)构建第二测试系统，测试整个第二测试系统的噪声温度及增益；

c)构建第三测试系统，测试整个第三测试系统的噪声温度值和增益。

2.根据权利要求1所述的一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法，其特征在于，所述第一测试系统包括第一噪声源NS、第一频谱分析仪SA及所需的射频转接器，其中第一噪声源通过测试线缆、射频转接器与第一频谱分析仪相连，根据测试需求设置第一频谱分析仪中的频率、中频带宽、前置放大器、温度、ENR各项参数，分别获第一取噪声源处于开启和关闭时的噪声温度系统的Y因子。

3.根据权利要求1所述的一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法，其特征在于，所述仪表的噪声温度T_Instr通过以下公式计算：

其中，T_Instr和Y_Instr分别为第一测试系统的噪声温度和Y因子，和分别为第一噪声源的处于开启和关闭时的噪声温度。

4.根据权利要求1所述的一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法，其特征在于，第二系统包括第二噪声源、第二频谱分析仪、两个性能参数完全相同的标准增益天线及所需的射频转接器，两个标准增益天线之间的距离为D。

5.根据权利要求4所述的一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法，其特征在于，第二测试系统的噪声温度T_b通过以下公式计算：

式中，T_ANT为单个标准增益天线的噪声温度,G_ANT为单个标准增益天线的增益，其中T_ANT和G_ANT包括空间中的路径损耗；T_Instr为第一测试系统的噪声温度；G_b为第二测试系统的增益。

6.根据权利要求1所述的一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法，其特征在于，第三测试系统包括第三噪声源、参考天线、待测设备DUT、测试线缆、第三频谱分析仪及所需的射频转接器，参考天线与待测设备DUT之间的距离为D。

7.根据权利要求6所述的一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法，其特征在于，待测设备DUT为天线与射频模块的集成在一起的模块或单独的待测天线。

8.根据权利要求6所述的一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法，其特征在于，当待测设备DUT为接收模块时，待测设备DUT的噪声温度T_DUT,RX：

式中，T_a和G_a为第三测试系统的噪声温度值和增益，T_Instr为第一测试系统的噪声温度；T_b和G_b为第二测试系统的噪声温度和增益；G_ANT为第二测试系统单个标准增益天线的增益。

9.根据权利要求4所述的一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法，其特征在于，当待测设备DUT为发射模块时，待测设备DUT的噪声温度T_DUT,TX：

式中，T_c和G_c为第三测试系统的噪声温度值和增益，T_Instr为第一测试系统的噪声温度；T_b和G_b为第二测试系统的噪声温度和增益；G_ANT为第二测试系统单个标准增益天线的增益。

10.根据权利要求6～9所述的一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法，其特征在于，待测设备DUT包括微波毫米波模块、接收机、发射机、封装天线。