[发明专利]POY产品的检测方法、装置、电子设备和存储介质有效
申请号: | 202310117255.5 | 申请日: | 2023-02-02 |
公开(公告)号: | CN115931905B | 公开(公告)日: | 2023-09-26 |
发明(设计)人: | 彭先涛;王鹏 | 申请(专利权)人: | 北京百度网讯科技有限公司;浙江恒逸石化有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/88 |
代理公司: | 北京易光知识产权代理有限公司 11596 | 代理人: | 王姗姗;金爱静 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | poy 产品 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种预取向丝POY产品的检测方法,包括:
接收针对目标生产批号的用户指定阈值;
基于所述用户指定阈值,确定所述目标生产批号的POY产品的缺陷检测阈值;
将所述POY产品的缺陷相关信息与所述缺陷检测阈值进行比较,得到所述POY产品的检测结果;
其中,所述接收针对目标生产批号的用户指定阈值,包括:
在确定第一用户编码所对应的权限级别达到预设级别的情况下,接收在所述第一用户编码所对应的用户操作页面中输入的所述用户指定阈值。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述缺陷检测阈值包括置信度阈值;
所述将所述POY产品的缺陷相关信息与所述缺陷检测阈值进行比较,得到所述POY产品的检测结果,包括:
将所述缺陷相关信息中的对应于第一缺陷的置信度与所述置信度阈值进行比较,得到第一比较结果;
基于所述第一比较结果,确定所述POY产品中是否存在所述第一缺陷。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述缺陷检测阈值包括降等阈值;
所述将所述POY产品的缺陷相关信息与所述缺陷检测阈值进行比较,得到所述POY产品的检测结果,包括:
将所述缺陷相关信息中的对应于第二缺陷的缺陷参数与所述降等阈值进行比较,得到第二比较结果;其中,所述缺陷参数包括所述第二缺陷的数量和/或尺寸;
基于所述第二比较结果,确定所述POY产品的等级。
4.根据权利要求1所述的方法,还包括:
基于所述POY产品的检测结果,得到缺陷展示图像;其中,所述缺陷展示图像中包含具有不同的展示样式的多个缺陷检测框;
显示所述缺陷展示图像。
5.根据权利要求4所述的方法,还包括:
对所述缺陷展示图像进行压缩,得到压缩图像,并存储所述压缩图像;
响应于在预设时段内接收到对所述POY产品的缺陷追踪请求,显示所述压缩图像。
6.一种POY产品的检测装置,包括:
阈值接收模块,用于接收针对目标生产批号的用户指定阈值;
阈值确定模块,用于基于所述用户指定阈值,确定所述目标生产批号的POY产品的缺陷检测阈值;
检测模块,用于将所述POY产品的缺陷相关信息与所述缺陷检测阈值进行比较,得到所述POY产品的检测结果;
其中,所述接收针对目标生产批号的用户指定阈值,包括:
在确定第一用户编码所对应的权限级别达到预设级别的情况下,接收在所述第一用户编码所对应的用户操作页面中输入的所述用户指定阈值。
7.根据权利要求6所述的装置,其中,所述缺陷检测阈值包括置信度阈值;
所述检测模块包括:
第一比较单元,用于将所述缺陷相关信息中的对应于第一缺陷的置信度与所述置信度阈值进行比较,得到第一比较结果;
缺陷确定单元,用于基于所述第一比较结果,确定所述POY产品中是否存在所述第一缺陷。
8.根据权利要求6或7所述的装置,其中,所述缺陷检测阈值包括降等阈值;
所述检测模块包括:
第二比较单元,用于将所述缺陷相关信息中的对应于第二缺陷的缺陷参数与所述降等阈值进行比较,得到第二比较结果;其中,所述缺陷参数包括所述第二缺陷的数量和/或尺寸;
等级确定单元,用于基于所述第二比较结果,确定所述POY产品的等级。
9.根据权利要求6所述的装置,还包括:
图像获取模块,用于基于所述POY产品的检测结果,得到缺陷展示图像;其中,所述缺陷展示图像中包含具有不同的展示样式的多个缺陷检测框;
图像显示模块,用于显示所述缺陷展示图像。
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