[发明专利]面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法

权利要求书

1.一种面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法，其特征在于，包括：

创建规则文件；

在所述规则文件中根据集成电路的物理验证的几何图形定义基本几何处理对象；

在所述规则文件中提供访问每种基本几何处理对象的公共属性和/或特有属性的方法；

创建规则解析器，使得集成电路的版图基于所述规则文件描述物理验证的规则时通过所述规则解析器对所述规则文件中的定义进行词法解析和语法解析。

2.如权利要求1所述的面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法，其特征在于，所述基本几何处理对象包括图层、图形、边、角、边对、两个图像对象外侧的边对集合、两个图形对象内侧的边对集合、一个图形的外侧到另一个图形的内侧的边对集合、一个图形的内侧到另一个图形的外侧的边对集合、正方形、斜矩形、梯形、环、多边形当中的至少一种。

3.如权利要求2所述的面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法，其特征在于，所述图形、正方形、斜矩形、梯形、环、多边形的公共属性包括基本几何处理对象的面积。

4.如权利要求2所述的面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法，其特征在于，所述图形的特有属性包括基本几何处理对象的最长的边的长度。

5.如权利要求2所述的面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法，其特征在于，所述边的特有属性包括边的长度、宽度以及当前边的前一条边。

6.如权利要求2所述的面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法，其特征在于，所述角的特有属性包括当前角对象是否为90度、当前角对象是否为270度、获取当前角对象的前一个角对象、获取当前角对象的后一个角对象。

7.如权利要求2所述的面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法，其特征在于，所述两个图像对象外侧的边对集合、两个图形对象内侧的边对集合、一个图形的外侧到另一个图形的内侧的边对集合、一个图形的内侧到另一个图形的外侧的边对集合的公共属性包括获取边对之间的距离。

8.如权利要求1所述的面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法，其特征在于，所述规则文件中基本几何处理对象对应的访问符号表继承了TCL脚本语言，且所述基本几何处理对象通过两个不同的符号进行访问。

9.如权利要求1所述的面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法，其特征在于，基于所述基本几何处理对象及对应的属性描述集成电路的物理验证的规则的命令关键字包括设计规则约束逻辑、创建规则、创建规则组、创建数据库、创建层图形、创建层当中的至少一种。