[发明专利]一种用于火电设备的多维度精密点检方法及系统

权利要求书

1.一种用于火电设备的多维度精密点检方法，其特征在于，包括：

确定需要进行精密点检的设备，标记为待点检设备，并且确定所述待点检设备的重要度指标，根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期；

获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期；

根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，当所述精密点检结果小于标准值时，则继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，当所述精密点检结果大于等于标准值时，则对所述第一测试周期进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检；

在根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期时，包括：

确定所述待点检设备的重要度指标A0，预先设定第一预设重要度指标A1、第二预设重要度指标A2、第三预设重要度指标A3和第四预设重要度指标A4，且A1＞A2＞A3＞A4；

预先设定第一预设测试周期T1、第二预设测试周期T2、第三预设测试周期T3和第四预设测试周期T4，且0＜T1＜T2＜T3＜T4；

根据所述重要度指标A0与各预设重要度指标之间的关系确定所述待点检设备的初始测试周期：

当A0≥A1时，选取所述第一预设测试周期T1作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A1＞A0≥A2时，选取所述第二预设测试周期T2作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A2＞A0≥A3时，选取所述第三预设测试周期T3作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A3＞A0≥A4时，选取所述第四预设测试周期T4作为所述待点检设备的初始测试周期；

在选定第i预设测试周期Ti作为所述待点检设备的初始测试周期后，i=1，2，3，4，则此时的待点检设备的初始测试周期为Ti，记为初始测试周期Ti；

在获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期时，包括：

在确定所述初始测试周期Ti后，获取所述待点检设备的历史精密点检信息，所述历史精密点检信息包括历史精密点检结果数据和待点检设备的历史维护数据，根据所述历史精密点检结果数据和历史维护数据对所述初始测试周期Ti进行调整；其中，

在获取所述历史精密点检信息后，判断是否获取到所述历史精密点检结果数据和历史维护数据：

若仅获取到历史精密点检结果数据，则确定相邻两次的历史精密点检结果数据的差值，根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整，以获取所述第一测试周期；

若同时获取到所述历史精密点检结果数据和历史维护数据，则确定相邻两次的历史精密点检结果数据的差值，以及获取所述待点检设备的历史维修次数，并根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整后，再根据所述历史维修次数对调整后的初始测试周期Ti进行修正，以获取所述第一测试周期;

在根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整时，包括：

在获取到所述历史精密点检结果数据后，根据所述历史精密点检结果数据建立历史结果矩阵B，设定B（C₁，D₁，E₁，C₂，D₂，E₂，C₃，D₃，E₃，...，C_n，D_n，E_n），其中，C₁~C_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的振动通频值，D₁~D_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的红外温度值，E₁~E_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的超声值；

预先设定预设标准振动通频差值c0、预设标准红外温度差值d0和预设标准超声差值e0；预先设定第一预设调节系数z1、第二预设调节系数z2和第三预设调节系数z3，且1＞z1＞z2＞z3＞0.8；

获取所述历史结果矩阵B内最近两个周期内的振动通频值、红外温度值和超声值，获取相邻两次振动通频差值，记为C_n-1-C_n，获取相邻两次红外温度差值，记为D_n-1-D_n,获取相邻两次超声差值，记为E_n-1-E_n；

将C_n-1-C_n、D_n-1-D_n和E_n-1-E_n分别与c0、d0和e0进行比对，根据比对结果选取调节系数，以对所述初始测试周期Ti进行调整：

当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n≤e0时，则不对所述初始测试周期Ti进行调整；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第一预设调节系数z1对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z1，且Ti*z1取整数；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n＞e0，或者当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第二预设调节系数z2对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z2，且Ti*z2取整数；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n＞d0以及E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第三预设调节系数z3对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z3，且Ti*z3取整数；

在选定第m预设调节系数zm对所述初始测试周期Ti进行调整后，m=1，2，3，则将调整后的初始测试周期Ti*zm作为所述第一测试周期。