[发明专利]一种时序编解码方法和系统

说明书

本发明涉及一种时序编解码方法和系统，所述方法包括：生成第一测试波形信号和第二测试波形信号；将所述第一测试波形信号和所述第二测试波形信号融合生成第三测试波形信号；根据在第三测试波形信号运行下被测芯片的状态分别调整第一测试波形信号和第二测试波形信号。本发明提供的一种时序编解码方法和系统，解决在芯片验证测试过程中，需要产生多路不同自定义信号控制芯片，验证人员需要根据不同的测试需求编写不同的代码，开发周期长，效率低，不同测试项交叉切换，也容易出错的问题。

技术领域

本发明涉及传感器融合技术领域，尤其涉及一种一种时序编解码方法与系统。

背景技术

APS传感器和EVS传感器融合图像芯片，APS传感器会有trigger信号，EVS传感器也有trigger信号，APS传感器和EVS传感器的帧率不同，APS传感器的帧率30fps左右，EVS传感器的帧率2000fps左右，差异很大，芯片研发初期，APS传感器和EVS传感器相互干扰会出现条纹和闪频等现象。图像调试工程需要调节APS传感器和EVS传感器trigger时序，从而验证时序对串扰影响。但是，在芯片测试验证方面，需要测试的性能也越来越多。在实际应用，为了测试EVS传感器和APS传感器相互之间的影响，需要产生多路不同自定义信号控制芯片，EVS传感器和APS传感器控制信号不同，产生的时序特点也不同，验证人员需要根据不同的测试需求设计不同的验证代码，开发周期长，效率低，不同测试项交叉切换，也容易出错。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的是提供一种时序编解码方法与系统，解决在芯片验证测试过程中，需要产生多路不同自定义信号控制芯片，验证人员需要根据不同的测试需求编写不同的代码，开发周期长，效率低，不同测试项交叉切换，也容易出错的问题。

为实现上述目的，本发明采取以下技术方案：本发明公开了一种时序编解码方法，该方法包括：生成第一测试波形信号和第二测试波形信号；

将所述第一测试波形信号和所述第二测试波形信号融合生成第三测试波形信号；

根据在第三测试波形信号运行下被测芯片的状态分别调整第一测试波形信号和第二测试波形信号。

优选地，所述生成第一测试波形信号和第二测试波形信号，具体包括：

将测试波形编码成寄存器列表，测试波形编码的方式支持任意个信号以及产生任意时序；

将用户自定义的第一图形化波形转化为第一寄存器列表，将用户自定义的第二图形化波形转化为第二寄存器列表；

将第一寄存器列表解码生成第一测试波形信号，将第二寄存器列表解码生成第二测试波形信号。

优选地，所述将所述第一测试波形信号和所述第二测试波形信号融合生成第三测试波形信号，具体包括：

将所述第三测试波形信号设置为所述第一测试波形信号和所述第二测试波形信号与的结果。

优选地，所述将所述第三测试波形信号设置为所述第一测试波形信号和所述第二测试波形信号与的结果，具体包括：

判断所述第一测试波形信号的虚拟电平和所述第二测试波形信号的虚拟电平同时为高的时候，产生所述第三测试波形信号的波形。

优选地，所述将测试波形编码成寄存器列表，测试波形编码的方式支持任意个信号以及产生任意时序，具体包括：

寄存器Bit30～bit28总共3bit表达电平高低，0x0为低电平，0x1为高电平，bit27～bit0总共28bit为电平持续时间；

最高位bit31表达是否有依赖关系，有则设置为1，否则为0；

寄存器Bit30～bit28为0x2的时候循环开始，0x3为循环结束，bit27～bit0为循环次数；