[发明专利]用于嵌入式系统选择内存颗粒相位的方法

权利要求书

1.用于嵌入式系统选择内存颗粒相位的方法，其特征在于：

步骤(1)设备上电，boot启动，boot读取非易失性存储设备中存储的读相位参数最优值P_R和写相位参数最优值P_W，如果读取失败，执行步骤(2)，否则执行步骤(4)；

步骤(2)启动相位探测，获取内存颗粒读、写相位参数最优值，具体是：

(2-1)获取内存颗粒读相位参数范围A～B的中间值A和B为自然数，[·]表示取整；利用读相位参数中间值C进行读取数据测试，如果读取数据成功，执行步骤(2-2)～(2-7)，否则执行步骤(2-8)；

(2-2)利用读相位参数C-S进行读取数据测试，如果读取数据成功，执行步骤(2-3)，否则C-S即为读相位左边界参数L；S为设定的读相位参数步进量，S＝0.1～0.5；

(2-3)利用读相位参数C-2×S进行读取数据测试，如果读取数据成功，执行步骤(2-4)，否则C-2×S即为读相位左边界参数L；

(2-4)以此类推，直至读取数据失败，确定读相位左边界参数L；

(2-5)利用读相位参数C+S进行读取数据测试，如果读取数据成功，执行步骤(2-6)，否则C+S即为读相位右边界参数R；

(2-6)利用读相位参数C+2×S进行读取数据测试，如果读取数据成功，执行步骤(2-7)，否则C+2×S即为读相位右边界参数R；

(2-7)以此类推，直至读取数据失败，确定读相位右边界参数R，执行步骤(2-16)；

(2-8)利用读相位参数C-S进行读取数据测试，如果读取数据失败，则利用读相位参数C-2×S进行读取数据测试，以此类推，直至读取数据成功，则读取成功时对应的读相位参数C-n×S即为读相位右边界参数R，n为确定右边界参数的测试次数，执行步骤(2-9)～(2-11)；如果直到读相位最小参数A仍未读取数据成功，执行步骤(2-12)～(2-15)；

(2-9)利用读相位参数C-(n+1)×S进行读取数据测试，如果读取数据成功，执行步骤(2-10)，否则C-(n+1)×S即为读相位左边界参数L；

(2-10)利用读相位参数C-(n+2)×S进行读取数据测试，如果读取数据成功，执行步骤(2-11)，否则C-(n+2)×S即为读相位左边界参数L；

(2-11)以此类推，直至读取数据失败，确定读相位左边界参数L，执行步骤(2-16)；

(2-12)利用读相位参数C+S进行读取数据测试，如果读取数据失败，则利用读相位参数C+2×S进行读取数据测试，以此类推，直至读取数据成功，则读取成功时对应的读相位参数C+m×S即为读相位左边界参数L，m为确定左边界参数的测试次数；

(2-13)利用读相位参数C+(m+1)×S进行读取数据测试，如果读取数据成功，执行(2-14)，否则C+(m+1)×S即为读相位右边界参数R；

(2-14)利用读相位参数C+(m+2)×S进行读取数据测试，如果读取数据成功，执行(2-15)，否则C+(m+2)×S即为读相位右边界参数R；

(2-15)以此类推，直至读取数据失败，确定读相位右边界参数R，执行步骤(2-16)；

(2-16)确定读相位参数最优值表示向上取整；

(2-17)按照(2-1)～(2-16)相同方法，确定写相位参数最优值P_W；

步骤(3)将读相位参数最优值P_R和写相位参数最优值P_W写入非易失性存储设备中；

步骤(4)将读相位参数最优值P_R和写相位参数最优值P_W配置到内存颗粒控制器，启动设备。

2.如权利要求1所述的用于嵌入式系统选择内存颗粒相位的方法，其特征在于：如果更换新的内存颗粒，则删除非易失性存储设备中存储的读相位参数最优值P_R和写相位参数最优值P_W，执行步骤(1)～(4)，设备重新启动。

3.如权利要求1或2所述的用于嵌入式系统选择内存颗粒相位的方法，其特征在于：步骤(2-1)中的取整为向下取整或向上取整