[发明专利]一种半导体陶瓷封装外壳在审

专利信息
申请号: 202310157321.1 申请日: 2023-02-23
公开(公告)号: CN116153872A 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 闫方亮;于渤;杨丽霞;朱勋 申请(专利权)人: 北京聚仪共享科技有限公司
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L23/373
代理公司: 北京惟专知识产权代理事务所(普通合伙) 16074 代理人: 赵星;于理科
地址: 101407 北京市怀柔区雁*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 陶瓷封装 外壳
【权利要求书】:

1.一种半导体陶瓷封装外壳,包括外壳,其特征在于:

所述外壳为中部贯穿设置陶瓷件,该外壳的两开口侧分别封装有基板及盖板,其中,所述外壳上安装有引脚组;

所述引脚组包括栅极脚、漏极脚以及源极脚,所述漏极脚与所述基板实现电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体陶瓷封装外壳,其特征在于:所述外壳与所述基板及盖板之间均通过金属化焊接实现封装。

3.根据权利要求2所述的一种半导体陶瓷封装外壳,其特征在于:所述盖板为一金属板,所述外壳的上方设置有一焊环,所述盖板通过焊环与所述外壳实现金属化焊接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体陶瓷封装外壳,其特征在于:所述盖板为纯铜件、无氧铜件、钨铜件、铁镍合金件或合金铝件中的一种,所述盖板上设置有一电镀镍层。

5.根据权利要求2所述的一种半导体陶瓷封装外壳,其特征在于:所述盖板为陶瓷板。

6.根据权利要求5所述的一种半导体陶瓷封装外壳,其特征在于:所述陶瓷板通过金属化焊接与所述外壳进行封装。

7.根据权利要求1所述的一种半导体陶瓷封装外壳,其特征在于:所述外壳为氮化铝陶瓷、氮化硅陶瓷、碳化硅陶瓷或三氧化二铝陶瓷中的一种。

8.根据权利要求1所述的一种半导体陶瓷封装外壳,其特征在于:所述外壳的背端从上至下开设有一缺口,所述基板能够嵌入所述缺口中,以使该基板与所述外壳的底部平齐。

9.根据权利要求8所述的一种半导体陶瓷封装外壳,其特征在于:所述基板的至少部分能够延伸出所述外壳的侧端,该至少部分的上表面凸出于所述基板的上表面、并与基板形成一卡位,该卡位的侧壁能够与所述外壳的外壁相接触。

10.根据权利要求1-9所述的一种半导体陶瓷封装外壳,其特征在于:所述外壳为中部贯穿的长方体结构。

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