[发明专利]一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法在审
申请号: | 202310178307.X | 申请日: | 2023-02-28 |
公开(公告)号: | CN116068004A | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 杨文超;潘燕芳;唐梦奇;覃伟鸥;黎良伟;湛永钟;何欢 | 申请(专利权)人: | 广西大学;清华大学深圳国际研究生院;南宁海关技术中心 |
主分类号: | G01N23/2273 | 分类号: | G01N23/2273;G01N23/2202 |
代理公司: | 北京沃知思真知识产权代理有限公司 11942 | 代理人: | 唐丽萍 |
地址: | 530004 广西壮族*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 紫外 光电子 检测 粉末 样品 方法 | ||
1.一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:将粉末样品溶解于适当的溶解剂中,使用超声波振荡5~30min;
S2:将溶解后的溶液滴定到硅片上;
S3:将硅片放置于旋转涂膜机上,制备成膜;
S4:通过紫外光电子能谱检测硅片上的膜,即可实现对粉末样品的紫外光电子能谱检测。
2.根据权利要求1所述的一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法,其特征在于,所述S1中的溶解剂包括有机溶剂、无机溶剂。
3.根据权利要求1所述的一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法,其特征在于,所述S1中的硅片大小范围为5×5mm至10×10mm。
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