[发明专利]一种利用强散射介质进行激光抗振动聚焦装置及使用方法在审

专利信息
申请号: 202310193030.8 申请日: 2023-03-03
公开(公告)号: CN116068784A 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 黄峰;彭霏;刘宇 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: G02B27/42 分类号: G02B27/42;G02B27/44;G02B27/09;G02B27/40
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊;薛金才
地址: 350108 福建省福州市*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 散射 介质 进行 激光 振动 聚焦 装置 使用方法
【说明书】:

发明提供了一种利用强散射介质进行激光抗振动聚焦装置及使用方法,依次包括激光器、反射式旋转衰减片、第一可调圆形光阑、激光扩束器、第二可调圆形光阑、半波片、立方体偏振分束器、空间光调制器、第一透镜、第三可调圆形光阑、第二透镜、第一物镜、散射介质、第二物镜、COMS光电探测器;应用本技术方案可实现利用散射介质相邻入射光通道之间的强相关性,抵消振动导致的入射光相位平移过程中的焦点位置变化。

技术领域

本发明涉及激光聚焦技术领域,特别是一种利用强散射介质进行激光抗振动聚焦装置及使用方法。

背景技术

激光聚焦在工艺加工、生物医学、材料科学、大气光学等领域都有着重要的作用。如激光切割、激光焊接、共聚焦显微成像、激光导星技术等都需要聚焦。传统的激光聚焦光路由激光源、透镜等光学元件组成。光路对振动非常敏感,往往光源发生很小的位移或旋转,焦点也会随之移动甚至不复存在,所以传统激光聚焦光路的稳定性和抗振性较差。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提供一种利用强散射介质进行激光抗振动聚焦装置及使用方法,该装置和方法能够在光源或系统振动时,利用散射介质相邻入射光通道之间的强相关性,抵消振动导致的入射光相位平移过程中的焦点位置变化。

为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:一种利用强散射介质进行激光抗振动聚焦装置,依次包括激光器、反射式旋转衰减片、第一可调圆形光阑、激光扩束器、第二可调圆形光阑、半波片、立方体偏振分束器、空间光调制器、第一透镜、第三可调圆形光阑、第二透镜、第一物镜、散射介质、第二物镜、COMS光电探测器;

所述激光器作为光源发射激光,经过反射式旋转衰减片和第一可调圆形光阑后将激光整形为圆形光斑;随后经过激光扩束器实现入射光的准直和扩束;扩束后的激光经过第二可调圆形光阑、半波片、立方体偏振分束器后,以水平偏振状态入射到空间光调制器的调制平面上;调制后的入射光经过第一透镜、第三可调圆形光阑、第二透镜组成的4f滤波系统,由第一物镜收集聚焦到散射介质前表面上;经过散射介质作用后的出射光由第二物镜收集,最后被COMS光电探测器接收并记录光强信息。

本发明还提供了一种利用强散射介质进行激光抗振动聚焦装置的使用方法,采用了上述的一种利用强散射介质进行激光抗振动聚焦装置,包括以下步骤:

步骤S1:打开激光器和空间光调制器,在空间光调制器上加载相位矫正图和闪耀光栅灰度图,搭建抗振光路,同时该光路作为后续传输矩阵测量和聚焦光路;

步骤S2;在空间光调制器上加载不同输入光对应的相位灰度图,使用四步相移法调制输入光的相位,并通过COMS光电探测器采集各个相移下的输出散斑图;

步骤S3;将采集的散斑图转换为矩阵数据,并带入计算公式,即可得到被测散射介质的传输矩阵;

步骤S4;使用相位共轭方法计算得到相位掩膜,加载到空间光调制器上实现在指定位置的抗振动聚焦。

在一较佳的实施例中,所述步骤2具体包括在搭建光路的时候打开空间光调制器,在调制表面加载相位矫正图,实现相位矫正以精准调制入射光;同时,在调制表面加载闪耀光栅灰度图,将没有调制的零级衍射光分离出来,再通过4f滤波系统对调制过的一级衍射光进行选择和滤波。

在一较佳的实施例中,步骤3具体包括将空间光调制器划分为N个超像素,每个超像素由6*6个小像素组成,并作为散射介质测量系统的输入自由模式;将输入光以哈达玛基形式入射,对第n个输入光波当其相位改变α时,根据光的干涉叠加原理,第m个出射通道上的光强为:

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