[发明专利]残差剪枝方法、装置、电子设备和可读存储介质

权利要求书

1.一种残差剪枝方法，其特征在于，包括：

查找第一模型对应的计算图中的目标节点，所述目标节点与所述第一模型中的残差连接结构相对应；

基于所述目标节点遍历所述计算图，确定所述计算图中的目标卷积层；

对所述目标卷积层进行剪枝处理。

2.根据权利要求1所述的残差剪枝方法，其特征在于，所述基于所述目标节点遍历所述计算图，确定所述计算图中的目标卷积层，包括：

沿所述目标节点的输入方向和输出方向遍历所述计算图，直至确定所述目标节点对应的第一算子结构；

在所述第一算子结构与预设算子结构相匹配的情况下，确定所述第一算子结构为所述目标卷积层。

3.根据权利要求2所述的残差剪枝方法，其特征在于，所述目标节点的数量为至少两个；

所述沿所述目标节点的输入方向和输出方向遍历所述计算图，确定所述目标节点对应的第一算子结构，包括：

获取至少两个所述目标节点的排列顺序；

沿所述排列顺序，依次将至少两个所述目标节点作为起点对所述计算图进行遍历。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的残差剪枝方法，其特征在于，所述对所述目标卷积层进行剪枝处理，包括：

确定所述目标卷积层中的目标计算通道；

对所述目标计算通道进行裁剪处理。

5.根据权利要求4所述的残差剪枝方法，其特征在于，同一个所述残差连接结构对应多个所述目标卷积层的数量；

所述确定所述目标卷积层中的目标计算通道，包括：

确定多个所述目标卷积层中的第一计算通道，所述第一计算通道为所述目标卷基层所需调用的计算通道；

将多个所述目标卷积层中除第一计算通道外的其余计算通道，确定为目标计算通道。

6.根据权利要求5所述的残差剪枝方法，其特征在于，所述确定多个所述目标卷积层中的第一计算通道，包括：

对每个所述目标卷积层中所需调用的第二计算通道进行掩码处理，得到目标通道掩码；

基于所述目标通道掩码，确定所述第一计算通道。

7.根据权利要求4所述的残差剪枝方法，其特征在于，所述对所述目标计算通道进行裁剪处理之后，还包括：

建立所述目标计算通道与所述目标卷积层之间的映射关系。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的残差剪枝方法，其特征在于，所述查找第一模型对应的计算图中的目标节点，包括：

构建所述第一模型对应的所述计算图；

基于目标算子信息，查找所述计算图中的目标节点。

9.根据权利要求8所述的残差剪枝方法，其特征在于，所述构建所述第一模型对应的所述计算图，包括：

获取所述第一模型中的至少两个算子的算子信息，以及所述至少两个算子之间的顺序信息；

基于所述算子信息和所述顺序信息，构建所述计算图。

10.根据权利要求9所述的残差剪枝方法，其特征在于，所述算子信息包括以下任一项：算子节点名称、算子计算参数、算子计算结果。

11.根据权利要求1至3中任一项所述的残差剪枝方法，其特征在于，所述第一模型包括以下任一项：图像分类模型、目标检测模型。

12.一种残差剪枝装置，其特征在于，包括：

查找模块，用于查找第一模型对应的计算图中的目标节点，所述目标节点与所述第一模型中的残差连接结构相对应；

确定模块，用于基于所述目标节点遍历所述计算图，确定所述计算图中的目标卷积层；

处理模块，用于对所述目标卷积层进行剪枝处理。