[发明专利]扫读笔矫正数据计算方法、装置及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202310215374.4 申请日: 2023-03-08
公开(公告)号: CN116110049A 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 罗辉;马志宇;伍炬彬;李云军;韦刚 申请(专利权)人: 深圳市云希谷科技有限公司
主分类号: G06V30/142 分类号: G06V30/142;G06V30/16;G06V30/14
代理公司: 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 代理人: 宋宇航
地址: 518000 广东省深圳市南山区南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 扫读笔 矫正 数据 计算方法 装置 计算机 可读 存储 介质
【说明书】:

发明公开了一种扫读笔矫正数据计算方法,包括以下步骤:获取待处理的目标处理图像的灰阶值,以所述灰阶值设置第一采样数组;以所述第一采样数组为参数调用第一关键函数计算第一矫正数值;获取所述目标处理图像的模拟图像,以所述第一矫正数值和所述模拟图像的采样点为参数计算第二矫正数值;根据所述第一矫正数值和所述第二矫正数值形成所述矫正参数。本发明还公开了一种装置及计算机可读存储介质,本发明的扫读笔矫正数据计算方法通用性强,能够适应所有的扫读笔模具和笔头颜色的矫正算法,不需要多余的操作只需卡住特定卡片扫描得出待处理的图像集合实现矫正,提升了扫读笔的矫正效率。

技术领域

本发明涉及图像矫正技术领域,尤其涉及一种扫读笔矫正数据计算方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

扫读笔作为目前主流的学习工具,在广大的学生群体中越来越普及。它主要的实现原理是通过笔尖的摄像头采集图像数据来完成的,但由于摄像头的安装和模具都会有公差,导致摄像头的成像也会有偏差,当偏差较大时会严重影响扫描的准确率。所以工厂在出货前需要对每台设备进行校正操作,但由于模具里面结构件较多,摄像头的成像会比较复杂,导致校正算法的准确率偏低、校正时间过长,甚至需要工人手动校正,最终是工厂的生产效率低下。

发明内容

本申请实施例通过提供一种扫读笔矫正数据计算方法、装置及计算机可读存储介质,旨在解决现有模具结构件较多导致摄像头的成像会复杂,进而造成校正算法的准确率偏低、校正时间过长的技术问题。

为解决上述技术问题,本申请提供了一种扫读笔矫正数据计算方法,包括以下内容:

获取待处理的目标处理图像的灰阶值,以所述灰阶值设置第一采样数组;

以所述第一采样数组为参数调用第一关键函数计算第一矫正数值;

获取所述目标处理图像的模拟图像,以所述第一矫正数值和所述模拟图像的采样点为参数计算第二矫正数值;

根据所述第一矫正数值和所述第二矫正数值形成所述矫正参数。

可选的,所述以所述第一采样数组为参数调用第一关键函数计算第一矫正数值的步骤,包括:

以所述第一采样数组为参数,按预设周期调用所述第一关键函数计算多个矫正数组;

在多个所述矫正数组中确认所述第一矫正数值。

可选的,所述在多个所述矫正数组中确认所述第一矫正数值的步骤,包括:

计算多个所述矫正数组的各数组差值,并以处于预设差值范围的所述数组差值为目标矫正数组;

根据所述目标矫正数组确定所述第一矫正数值。

可选的,以所述第一矫正数值和所述模拟图像的采样点为参数计算第二矫正数值的布置,包括:

确认所述采样点的位置参数,以所述位置参数和所述第一矫正数值生成第二采样数组;

以所述第二采样数组为参数调用第二关键函数,并以计算到函数最小值为所述第二矫正数值。

可选的,所述获取待处理的目标处理图像的灰阶值的步骤,包括:

获取所述目标处理图像的YUV数值;

在所述YUV数值中提取所述目标处理图像的灰阶值。

可选的,所述将所述YUV数值处理后得出所述目标处理图像的灰阶值的步骤,包括:

计算所述灰阶值的平均值,以所述平均值作为所述目标处理图像的灰阶值。

可选的,所述获扫读笔矫正数据计算方法,还包括:

设置图像中线,以所述图像中线为基准扫描式拍摄图像;

在拍摄到的所述图像中确定待处理的所述目标处理图像。

可选的,所述根据所述第一矫正数值和所述第二矫正数值形成所述矫正参数的步骤之后,还包括:

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