[发明专利]内存性能测试方法、装置及计算机设备

说明书

本申请涉及一种内存性能测试方法、装置及计算机设备。该方法包括：根据计算机设备内当前的访存模块节点中处理核心的特征信息，对多种不同的性能测试环境配置不同的处理核心组数量，在各性能测试环境下，对计算机设备进行内存性能测试，并根据各性能测试环境下的内存性能测试结果，确定计算机设备的最优测试结果。采用上述方法可以在内存性能测试前配置性能测试环境，将计算机设备内访存模块节点中的所有处理核心配置为多个处理核心组，在内存性能测试过程中能够通过处理核心组内的多个处理核心实现并行处理，从而提高内存性能的测试性能。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种内存性能测试方法、装置及计算机设备。

背景技术

随着计算机技术的发展，计算机设备实现数据处理的业务越来越多。内存是计算机设备中的关键部件之一，计算机设备中所有程序的运行都是在内存中进行的，并且在业务处理过程中，计算机设备中处理器运行的处理数据会暂存在内存中，因此，内存的性能对计算机设备的性能具有一定影响，确定计算机设备性能时就需要对内存的性能进行测试。

其中，内存延迟是内存的性能指标之一，以对计算机设备的内存延迟进行测试为例，相关技术中提供的内存延迟测试方法会存在内存延迟测试性能较低的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种内存性能测试方法、装置及计算机设备，能够提高内存延迟的测试性能。

第一方面，本申请实施例提供了一种内存性能测试方法，该方法包括：

根据计算机设备内当前的访存模块节点中处理核心的特征信息，对多种不同的性能测试环境配置不同的处理核心组数量；

在各性能测试环境下，对计算机设备进行内存性能测试；

根据各性能测试环境下的内存性能测试结果，确定计算机设备的最优测试结果。

本申请实施例中的技术方案，可以根据计算机设备内当前的访存模块节点中处理核心的特征信息，对多种不同的性能测试环境配置不同的处理核心组数量，在各性能测试环境下，对计算机设备进行内存性能测试，并根据各性能测试环境下的内存性能测试结果，确定计算机设备的最优测试结果；采用上述方法可以在内存性能测试前配置性能测试环境，将计算机设备内访存模块节点中的所有处理核心配置为多个处理核心组，在内存性能测试过程中能够通过处理核心组内的多个处理核心实现并行处理，从而提高内存性能的测试性能；同时，上述方法可以适用于任何型号类型处理器的计算机设备，从而提高了内存性能测试方法的通用性；另外，上述方法不需要人工参与测试过程，不仅可以节省测试成本，还可以减少人工误差，提高测试结果的准确性。

在其中一个实施例中，根据计算机设备内当前的访存模块节点中处理核心的特征信息，对多种不同的性能测试环境配置不同的处理核心组数量，包括：

根据访存模块节点中处理核心的特征信息，对访存模块节点中的处理核心进行绑核操作，绑核操作用于对多种不同的性能测试环境配置不同的处理核心组数量。

本申请实施例中的技术方案，可以根据访存模块节点中处理核心的特征信息，对访存模块节点中的处理核心进行绑核操作；采用上述方法可以对计算机设备内各访存模块节点中的所有处理核心进行绑核操作，得到访存模块节点中的多个处理核心组，以在内存性能测试过程中能够通过处理核心组内的多个处理核心实现并行处理，从而提高内存性能的测试性能。

在其中一个实施例中，特征信息包括处理核心的总数量；根据访存模块节点中处理核心的特征信息，对访存模块节点中的处理核心进行绑核操作，包括：

根据访存模块节点中处理核心的总数量，对访存模块节点中的所有处理核心进行分组，得到访存模块节点中的多个处理核心组；

对各处理核心组中的处理核心进行绑核操作。