[发明专利]一种芯片大数据量失败地址存储的方法

权利要求书

1.一种芯片大数据量失败地址存储方法，其特征在于，包括：

步骤S1：采用半导体自动化测试设备对待测芯片进行检测，得到所述待测芯片所有故障点数据集的分布图；将所有所述故障点的行row、列cloumn和数据I/O通道DQ分别作为一个节点，形成坐标阵列稀疏矩阵，并存入失效地址存储器AFM；其中，所述失效地址存储器AFM按相同所述列column值作为Z轴，所述行row和数据I/O通道DQ值分别为X轴和Y轴，或者，所述失效地址存储器AFM按相同所述数据I/O通道DQ值作为Z轴，所述行row和列cloumn分别为X轴和Y轴；

步骤S2：判断所述失效地址存储器AFM中的故障点总数是否超过预定的阈值，如果是，执行步骤S3，如果不是，对所述失效地址存储器AFM进行压缩存储和传输；

步骤S3：根据不同芯片大小和所述故障点的分布，分割大的失效地址存储器AFM为N个子失效地址存储器AFM，以使整个失效地址存储器AFM文件存储格式如下：

【Die Describe】【Sub FM Describe】【FM data】【Sub FM Describe】【FM data】···【Sub FM Describe】【FM data】；

其中，所述Die Describe为所述失效地址存储器AFM的结构描述，其结构如下：

数据长度、数据单元类别、dut信息、行地址线数量、列地址线数量和所述数据I/O通道DQ值；

所述Sub FM Describe为所述失效地址存储器AFM的结构描述，其结构如下：

数据长度、数据单元类别、绝对起始row信息、绝对起始column信息、row数量、column数量和当前数据单元的数据I/O通道DQ值；其中，所述失效地址存储器AFM按相同所述数据I/O通道DQ值作为Z轴，或者，所述失效地址存储器AFM按相同所述列column值作为Z轴；其中，所述数据I/O通道DQ值包括数据I/O值和所述Z轴的标识值，所述Z轴的标识值用于区分所述失效地址存储器AFM按相同所述数据I/O通道DQ值作为Z轴，还是以所述失效地址存储器AFM按相同所述列column值作为Z轴。

所述失效存储数据FM data为所述失效地址存储器AFM中的失效存储数据结构描述，其结构如下：

数据长度、数据单元类别、失败地址信息格式、失败信息长度、row数量、column数量和失败信息；

步骤S4：依次提取并判断每一个所述子失效地址存储器AFM是否具有故障点，如果有，执行步骤S5，如果没有，不对所述子失效地址存储器AFM的数据进行压缩和传输，并记录所述子失效地址存储器AFM的Sub FM Describe结构；

步骤S5：对所述子失效地址存储器AFM的数据进行压缩和传输。

2.根据权利要求1所述的芯片大数据量失败地址存储方法，其特征在于，所述步骤S3中分割出的N个子失效地址存储器AFM是均等的。

3.根据权利要求1所述的芯片大数据量失败地址存储方法；其特征在于，N个所述子失效地址存储器AFM为并行处理。

4.根据权利要求1所述的芯片大数据量失败地址存储方法；其特征在于，还包括步骤S6：接收N个所述子失效地址存储器AFM传输所得到压缩数据进行解析和还原排序，并根据所述Sub FM Describe的数据I/O通道DQ值中的某一位字节中的数值，将没有故障点的所述子失效地址存储器AFM的数据插入到所述失效地址存储器AFM还原排序的序列中，以完成所述失效地址存储器AFM的整体还原。