[发明专利]一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法在审
申请号: | 202310235760.X | 申请日: | 2023-03-13 |
公开(公告)号: | CN116596838A | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 高红霞;曲连伟;陈山娇;李冠基;杨伟朋 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06V10/77;G06V10/44;G06V10/25;G06V10/26;G06V10/80;G06V10/764;G06V10/766;G06N3/045;G06N3/0464 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 冯炳辉 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 特征 感知 元器件 表面 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)采集待检测的元器件的RGB图像;
2)将RGB图像通过缺陷空间映射网络,得到缺陷空间映射图,其中,所述缺陷空间映射网络包含通道注意力网络和空间注意力网络;
3)将RGB图像进行关键的点定位,得到关键点坐标;
将缺陷空间映射图输入区域建议网络,获得ROI区域,同时将缺陷空间映射图输入主干网络得到特征图,并进行ROIpooling处理,得到感兴趣区域ROIs;
将缺陷空间映射图进行超像素快速分割,得到多背景区域;
4)根据得到的多背景区域与ROIs,通过ROIs找到其相交背景区域,进行区域特征融合,即将相交的背景区域与ROIs特征融合;
5)根据得到的关键点坐标,将ROIs与关键点坐标进行比对,分别在横向与纵向方向得到两个相同尺寸的ROI区域,称为双近邻ROI区域特征,比对双近邻ROI区域特征,将比对结果向量作为感兴趣区域ROIs的特征向量;
6)将特征向量送入全连接层,进行分类与边框回归,识别出检测对象的类别和位置并标注。
2.根据权利要求1所述的一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法,其特征在于,在步骤1)中,将检测对象置于图像采集装置上,光学系统通过相机、图像采集卡到达计算机,通过计算机渲染技术得到检测对象的RGB图像。
3.根据权利要求2所述的一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法,其特征在于,在步骤2)中,将RGB图像输入缺陷空间映射网络,并进行通道concact,得到通道注意力向量,通道注意力向量分别经过maxPool与AvgPool并行输入全连接FC层,然后进行以下操作:首先进行Squeeze操作,Squeeze操作将空间维度进行特征压缩,即每个二维的特征图变成一个实数,相当于具有全局感受野的池化操作,特征通道数不变;然后是Excitation操作,Excitation操作通过参数channel attention模块为每个特征通道生成权重,channelattention模块被学习用来显式地建模特征通道间的相关性,channel attention模块使用了一个2层bottleneck结构,先降维再升维的全连接层+Sigmoid函数来实现;得到了每一个特征通道的权重之后,就将相应权重应用于原来的每个特征通道,基于特定的任务,学习到不同通道的重要性,得到缺陷通道注意力映射图F;
接着,将缺陷通道注意力映射图F输入空间注意力网络,将channel attention模块输出的缺陷通道注意力映射图F作为空间注意力网络的输入特征图,然后进行以下操作:首先,该特征图经过最大池化MaxPool和平均池化AvgPool,得到两个H×W×1的权重向量,H为高度,W为宽度,;该特征图的通道数从[C,H,W]变为[1,H,W],C为特征图层,对同一特征点的所有通道池化,得到2个特征图;然后将这2个特征图基于channel做concat操作,即通道拼接,形成[2,H,W]的特征图空间权重,然后特征图空间权重经过一个7×7卷积(7×7比3×3效果要好)操作,降维为1个channel,得到[1,H,W]的特征图,这[1,H,W]的特征图表征了特征图上的每个点的重要程度,数值大的更重要,[1,H,W]的特征图再经过sigmoid生成spatial attention feature,最后将该spatial attention feature和空间注意力网络的输入做乘法,得到生成的映射图s,将映射图s超尺度变换为缺陷空间映射图。
4.根据权利要求3所述的一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法,其特征在于:在步骤3)中,根据图像特征,采用边缘检测与先验图像操作提取轮廓,然后根据进行灰度分割,之后进行关键点定位。
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