[发明专利]一种显示面板的检测方法及装置、存储介质及电子设备

说明书

本发明提供了一种显示面板的检测方法及装置、存储介质及电子设备，由于当第一个子像素中发光元件的阳极覆盖第二个子像素中驱动晶体管的栅极时，在第一个子像素中发光元件的阳极的电位变化时会耦合第二个子像素中驱动晶体管的栅极的电位；那么在第一个子像素所显示灰阶变化时，且第二个子像素显示灰阶不变的情况下，就会出现灰阶过渡串色的现象，因此在显示面板的设计初期基于新设计的像素版图和该检测方法，结合像素版图中第一个子像素中发光元件的阳极覆盖第二个子像素中驱动晶体管的栅极的覆盖面积，就可以检测出新设计方案下显示面板最终的显示画质能力。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更具体地说，涉及一种显示面板的检测方法及装置、存储介质及电子设备。

背景技术

随着科学技术的不断发展，现代社会已经进入信息化并向智能化方向发展，显示是实现信息交换和智能化的关键环节；在目前众多显示技术中，OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)显示技术被认为是具有颠覆性的下一代显示技术。OLED显示技术是一种利用多层有机薄膜结构产生电致发光的器件，其制作工艺简单且只需要比较低的驱动电压，这些主要的特征使得OLED在满足显示面板的应用上显得非常突出；OLED显示面板相比较LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示)显示面板，具有更轻薄、亮度高、功耗低、响应快、清晰度高、柔性好、发光效率高等优点，能满足消费者对显示技术的新需求。

但是，现有的显示面板在设计初期对新设计方案的评估有一定的局限性，导致新设计方案的显示面板的画质能力需根据最终的产品来确认其显示效果，不能够直接在设计初期识别评估新设计方案的显示面板的画质能力，具有很大的时间限制性。

发明内容

有鉴于此，为解决上述问题，本发明提供一种显示面板的检测方法及装置、存储介质及电子设备，技术方案如下：

一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括多个子像素，所述子像素包括：像素电路和发光元件，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管用于为所述发光元件提供驱动电流，所述发光元件响应所述驱动电流进行发光；

所述检测方法包括：

获取任意两个发光颜色不同的子像素之间的参数信息，所述参数信息包括第一个子像素中发光元件的阳极覆盖第二个子像素中驱动晶体管的栅极的覆盖面积；所述覆盖面积为在垂直于所述显示面板所在平面的方向上，所述发光元件的阳极的正投影与所述驱动晶体管的栅极的正投影之间交叠区域的面积；

基于所述参数信息，确定所述显示面板的显示状态。

本发明还提供了一种显示面板的检测装置，所述显示面板包括多个子像素，所述子像素包括：像素电路和发光元件，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管用于为所述发光元件提供驱动电流，所述发光元件响应所述驱动电流进行发光；

所述检测装置包括：

获取模块，用于获取任意两个发光颜色不同的子像素之间的参数信息，所述参数信息包括第一个子像素中发光元件的阳极覆盖第二个子像素中驱动晶体管的栅极的覆盖面积；所述覆盖面积为在垂直于所述显示面板所在平面的方向上，所述发光元件的阳极的正投影与所述驱动晶体管的栅极的正投影之间交叠区域的面积；

确定模块，用于基于所述参数信息，确定所述显示面板的显示状态。

本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行上述检测方法。

本发明还提供了一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：至少一个处理器、以及与所述处理器连接的至少一个存储器、总线；

其中，所述处理器、所述存储器通过所述总线完成相互间的通信；

所述处理器用于调用所述存储器中的程序指令，以执行上述检测方法。