[发明专利]基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法及系统

权利要求书

1.基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法，其特征在于，包括：

将标准黑体温度设置为低温，等待黑体温度稳定，获取低温黑体的均值干涉数据；将标准黑体温度设置为高温，等待黑体温度稳定，获取高温黑体的均值干涉数据；

分别对获取的低温黑体均值干涉数据、高温黑体的均值干涉数据进行光谱反演，得到对应的低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱；基于低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱，采用复数辐射定标方法，计算复数辐射定标系数；

利用复数辐射定标系数，进行复数辐射定标，获取定标光谱辐射亮度，取定标光谱辐射亮度的虚部残值，作为仪器的NESR值。

2.如权利要求1所述的基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法，其特征在于，所述将标准黑体温度设置为低温，等待黑体温度稳定，获取低温黑体的均值干涉数据的方式为采集低温黑体的干涉数据，并进行叠加均值，得到低温黑体的均值干涉数据。

3.如权利要求2所述的基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法，其特征在于，在进行干涉数据叠加均值前，首先识别并剔除异常干涉数据，并进行干涉数据零光程差点检测处理；并且进行叠加均值时采用零光程差点作为基准参考点。

4.如权利要求1所述的基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法，其特征在于，所述将标准黑体温度设置为高温，等待黑体温度稳定，获取高温黑体的均值干涉数据的方式为采集高温黑体的干涉数据，并进行叠加均值，得到高温黑体的均值干涉数据。

5.如权利要求1所述的基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法，其特征在于，所述分别对获取的低温黑体均值干涉数据、高温黑体的均值干涉数据进行光谱反演之前，进行干涉数据毛刺检测校正、非线性校正、干涉数据直流项剔除、干涉数据截断或添零、干涉数据平移变换、条纹计数错误检测校正的预处理过程。

6.如权利要求1所述的基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法，其特征在于，所述计算复数辐射定标系数之前要以高温黑体复数光谱为基准，对低温黑体复数光谱和NESR测试的复数光谱进行相位对齐处理，消除不同温度目标场景间以及仪器自身辐射等引入的相位偏差。

7.如权利要求1所述的基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法，其特征在于，所述仪器的NESR值的测量方法为：将标准黑体温度设置为仪器NESR测试温度对应的温度，等待黑体温度稳定；采集黑体的干涉数据，并进行叠加均值，得到NESR测试温度时黑体的均值干涉数据；所述均值干涉数据经光谱反演得到复原复数光谱，并利用复数辐射定标系数，进行复数辐射定标，得到定标光谱辐射亮度；取定标光谱辐射亮度的虚部残值，作为仪器的NESR值。

8.基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量系统，其特征在于，包括：

参数预处理模块：用于将标准黑体温度设置为低温，等待黑体温度稳定，获取低温黑体的均值干涉数据；将标准黑体温度设置为高温，等待黑体温度稳定，获取高温黑体的均值干涉数据；

反演模块，用于分别对获取的低温黑体均值干涉数据、高温黑体的均值干涉数据进行光谱反演，得到对应的低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱；

NESR值测量模块，用于基于低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱，采用复数辐射定标方法，计算复数辐射定标系数；利用复数辐射定标系数，进行复数辐射定标，获取定标光谱辐射亮度，取定标光谱辐射亮度的虚部残值，作为仪器的NESR值。

9.一种非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，所述非暂态计算机可读存储介质用于存储计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时，实现如权利要求1-7任一项所述的基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器以及计算机程序；其中，处理器与存储器连接，计算机程序被存储在存储器中，当电子设备运行时，所述处理器执行所述存储器存储的计算机程序，以使电子设备执行实现如权利要求1-7任一项所述的基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法。