[发明专利]一种微小单晶体晶胞参数测量仪

权利要求书

1.一种微小单晶体晶胞参数测量仪，其特征在于，所述测量仪包括：测量仪主板、X射线光管的固定装置、能够调节X射线输出尺寸的X射线准直器、样品视频显微镜、样品台和X射线探测器；

X射线管和X射线准直器通过固定装置固定在测量仪主板上，X射线管发出的X射线经过X射线准直器调节输出尺寸后，照射到样品台上的微小单晶体样品，然后被晶体样品反射到X射线探测器；样品台和X射线探测器也安装测量仪主板上。

2.如权利要求1所述的晶胞参数测量仪，其特征在于，所述X射线光管的固定装置包括三维位置调整装置，手动滑台和X射线光管倾斜装置。

3.如权利要求2所述的晶胞参数测量仪，其特征在于，所述样品台包含：微小单晶体样品的倾斜和旋转装置、样品高度和水平位置的调节器；

所述倾斜和旋转机构由步进电机驱动；

样品高度和水平位置的调节器为手动调整结构，能够提供高度升降，和水平面上的纵向和横向两个方向的位置移动。

4.如权利要求3所述的晶胞参数测量仪，其特征在于，所述倾斜和旋转机构使用高精度蜗轮蜗杆的转盘构造。

5.如权利要求1所述的晶胞参数测量仪，其特征在于，X射线探测器采用小型的一维或二维阵列探测器；

所述X射线探测器被固定在驱动装置上，驱动装置安装在测量仪主板上，X射线探测器表面到样品台的连线与X射线管发出的X射线之间有预先设定的角度；X射线探测器表面到样品台之间有预定的距离；所述驱动装置能够带动X射线探测器在预定的区域范围内调整，以改变的X射线探测器表面法线与轴线与X射线管发出的X射线的夹角。

6.如权利要求5所述的晶胞参数测量仪，其特征在于，所述驱动装置由谐波减速电机或普通减速电机驱动。

7.如权利要求5所述的晶胞参数测量仪，其特征在于，所述测量仪还包括样品视频显微镜，样品视频显微镜与一个带十字线的显示器连接，所述样品视频显微镜和所述显示器用于观察样品。

8.一种如权利要求1-7中任一项所述微小单晶体晶胞参数测量仪的操作方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

步骤1，将微小单晶体从样品盒中用针尖取出，在观察显微镜下查看后转移到带磁铁底座的塑料样品托上；

步骤2，将载有微小单晶体所述样品托转移到样品台磁性基座上，粗调微小单晶体的位置，使得所述微小单晶体位于显示器的十字线附近，然后细调微小单晶体中心与十字线的中心重合；

步骤3，将微小单晶体倾斜到90度，调节微小单晶体的高度，使得微小单晶体的上表面和显示屏上十字线的水平横线重合；

步骤4，打开测量软件，点击开始测量按键，开始测试程序；

步骤5，测量结束，取下样品托。

9.如权利要求8所述的操作方法，其特征在于，步骤2包括：使用样品台的手动调整结构，在高度和水平面上的纵向和横向两个方向的位置移动移动微小单晶体。

10.如权利要求9所述的操作方法，步骤5的测试程序包括：

步骤5.1，以预设步长自动改变微小单晶体的倾角和旋转，探测X射线在微小单晶体上的衍射强度；

步骤5.2，找到衍射峰之后，在衍射峰附近使用比较预设步长小的步长重复执行微小单晶体的倾斜和旋转，测量衍射峰的谱线；

步骤5.3，计算微小单晶体的衍射峰的准确位置，写入规定的测量结果文件。