[发明专利]基于短波红外成像的高温测温标定方法

说明书

本发明公开了基于短波红外成像的高温测温标定方法，涉及红外成像测温标定技术领域，包括以下步骤：S1：将待标定红外热成像设备以及测量黑体放入至测温标定箱中；该红外成像测温标定红外成像测温标定XX，通过在进行测温标定时，对测量黑体的温度进行调整，在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境温度进行调整，在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境湿度进行调整，对条件试验集中的各项不同条件进行试验，记录测量黑体的灰度值以及对应的条件试验集，根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，通过本方法进行的红外成像设备测温标定更为全面。

技术领域

本发明涉及红外成像测温标定技术领域，具体为基于短波红外成像的高温测温标定方法。

背景技术

红外热成像测温技术是一种非接触温度测量技术，其具有直观、准确、灵敏度高、快速、安全、可测定物体表面温度场分布等优点。目前，该技术在机器设备的状态监测、半导体元件和集成电路的质量筛选和故障诊断、石化设备的故障诊断、火灾探测、材料内部缺陷的无损监测、传热研究以及红外特征隐身评估等领域得到广泛应用。红外热像仪测温与目标自身辐射大小、环境温度、大气湿度等参数密切相关，在使用红外热像仪测温前，需要对红外热像仪进行测温标定。然而对红外热像仪进行测温标定时，不能对测试的环境温度以及环境湿度进行调整，从而使得红外热像仪测温标定不够精准，从而影响到红外热像仪进行红外热成像测温。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供了基于短波红外成像的高温测温标定方法，解决了上述背景技术中提出的问题。

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：基于短波红外成像的高温测温标定方法，包括以下步骤：

S1：将待标定红外热成像设备以及测量黑体放入至测温标定箱中；

S2：使用待标定红外热成像设备测量黑体的灰度值；

S3：记录测量黑体的灰度值以及对应的条件试验集；

S4：根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，完成红外热成像设备的测温标定；

所述S2使用待标定红外热成像设备测量黑体的灰度值的步骤包括：

S21：确定测温标定箱内的环境温度、环境湿度和黑体温度的标定温度，并根据环境温度、环境湿度和标定温度设定不同的条件试验集。

可选的，所述S21确定测温标定箱内的环境温度、环境湿度和黑体温度的标定温度，并根据环境温度、环境湿度和标定温度设定不同的条件试验集的步骤包括：S2101：在进行测温标定时，对测量黑体的温度进行调整；S2102：在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境温度进行调整；S2103：在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境湿度进行调整。

可选的，所述S21确定测温标定箱内的环境温度、环境湿度和黑体温度的标定温度，并根据环境温度、环境湿度和标定温度设定不同的条件试验集的步骤包括：S2201：将红外热成像设备的工作环境以及红外热成像设备输入至条件生成模型；S2202：条件生成模型生成测试时的环境温度、环境湿度以及黑体温度的标定温度；S2203：将生成的环境温度、环境湿度以及黑体温度的标定温度进行集合。

可选的，所述S4根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，完成红外热成像设备的测温标定的步骤包括：S41：将标定好的红外热成像设备以及测量黑体放入至检测箱中；S42：根据该红外热成像设备的映射表，对红外热成像设备的测温标定进行检测；S43：根据检测结果，判断该红外热成像设备的测温标定是否合格。