[发明专利]一种检测设备及生产线

说明书

本发明实施例涉及自动检测技术领域，公开了一种检测设备及生产线，所述检测设备包括支撑架、驱动模块和检测模块，所述支撑架设置有滑行道，所述滑行道用于供料带穿过，所述料带上装载有待检测产品；所述驱动模块安装于所述支撑架，所述驱动模块位于所述滑行道的一端，所述驱动模块用于驱动所述料带沿所述滑行道运动，从而将待检测产品运送至检测工位；所述检测模块安装于所述支撑架，所述检测模块用于对位于检测工位的待检测产品进行检测。通过上述方式，本发明实施例无需使用机械手抓取料带上的待检测产品，有利于降低检测难度。

技术领域

本发明实施例涉及自动检测技术领域，特别是涉及一种检测设备及生产线。

背景技术

产品在生产过程中经常需要使用检测设备检测产品是否合格，尤其是对于芯片来说，芯片是否合格直接影响整个电子产品能否正常使用，目前对芯片的检测经常采用的方式一般是使用机械手将待检测的芯片运送至检测设备的检测位置进行检测，检测完成后再用机械手将芯片从检测位置取走。

本发明实施例在实施过程中，发明人发现：很多芯片在生产过程中是通过料带的形式进行运输的，也就是在芯片在加工完成后会整齐排列在料带上，在这种情况下，由于芯片的体积一般很小，使用机械手很难抓取料带上的芯片。

发明内容

本发明实施例主要提供一种检测设备及生产线，能够解决使用机械手抓取待测产品难度大的问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例采用的一个技术方案是：提供一种检测设备，包括支撑架、驱动模块和检测模块，所述支撑架设置有滑行道，所述滑行道用于供料带穿过，所述料带上装载有待检测产品；所述驱动模块安装于所述支撑架，所述驱动模块位于所述滑行道的一端，所述驱动模块用于驱动所述料带沿所述滑行道运动，从而将待检测产品运送至检测工位；所述检测模块安装于所述支撑架，所述检测模块用于对位于检测工位的待检测产品进行检测。

可选地，所述驱动模块包括第一立架、第二立架、第一驱动组件、驱动滚轴和压辊组件，所述第一立架和第二立架均安装于所述支撑架，所述第一立架和第二立架相对，所述驱动滚轴穿过所述第一立架和第二立架，并且所述驱动滚轴可相对于所述第一立架和第二立架转动，所述压辊组件滑动设置于所述第一立架和第二立架，所述料带穿过所述滑行道后穿过所述驱动滚轴和压辊组件之间的空隙，所述压辊组件用于对所述料带产生朝向所述驱动滚轴的压力，所述第一驱动组件安装于所述支撑架，所述驱动组件还与所述驱动滚轴连接，所述第一驱动组件用于驱动所述驱动滚轴转动，从而带动所述料带沿所述滑行道运动。

可选地，所述第一立架设置有第一凹槽，所述第二立架设置有第二凹槽；所述压辊组件包括第一滑块、第二滑块、压辊轴、第一限位件、第二限位件、第一弹性件和第二弹性件，所述第一滑块滑动设置于所述第一凹槽，所述第一限位件安装于所述第一立架背离所述支撑架的一端，所述第一弹性件的一端抵接于所述第一限位件，所述第一弹性件的另一端抵接于所述第一滑块，所述第二滑块滑动设置于所述第二凹槽，并且所述第一滑块和第二滑块相对，所述第二限位件安装于所述第二立架背离所述支撑架的一端，所述第二弹性件的一端抵接于所述第二限位件，所述第二弹性件的另一端抵接于所述第二滑块，所述压辊轴的一端转动设置于所述第一滑块，所述压辊轴的另一端转动设置于所述第二滑块，所述压辊轴用于对所述料带紧产生朝向所述驱动滚轴的压力。

可选地，所述压辊组件还包括第一导杆和第二导杆，所述第一导杆设置有第一凸台，所述第二导杆设置有第二凸台，所述第一凸台和第二凸台均设置有外螺纹，所述第一限位件设置有第一螺孔，所述第一凸台螺接于所述第一螺孔，所述第一弹性件套接于所述第一导杆，并且所述第一弹性件的一端抵接于所述第一凸台朝向所述第一滑块的表面，所述第二限位件设置有第二螺孔，所述第二凸台螺接于所述第二螺孔，所述第二弹性件套接于所述第二导杆，所述第二弹性件的一端抵接于所述第二凸台朝向所述第二滑块的表面。