[发明专利]用于片上系统功耗分析的方法和系统在审
申请号: | 202310301308.9 | 申请日: | 2023-03-24 |
公开(公告)号: | CN116414657A | 公开(公告)日: | 2023-07-11 |
发明(设计)人: | 江春城;张良 | 申请(专利权)人: | 三星半导体(中国)研究开发有限公司;三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30;G06F11/34 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 张川绪;方成 |
地址: | 215021 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 系统 功耗 分析 方法 | ||
公开了用于片上系统功耗分析的方法和系统。所述方法包括:监测所述片上系统的多个关键参数,其中,所述多个关键参数与所述片上系统的功耗相关;基于所述多个关键参数,检测所述片上系统的异常类型;调用多个配置文件之中的与检测到的异常类型对应的配置文件;监测并收集调用的配置文件所包括的参数集中的每个参数,以形成日志;以及基于所述日志对所述片上系统执行基于功耗的分析。
技术领域
本公开涉及电子装置的功耗分析,更具体地,涉及用于片上系统功耗分析的方法和系统。
背景技术
随着集成电路的快速发展,片上系统(SoC,又被称为系统级芯片)已经被广泛应用。SoC是使计算机或其他电子系统的大部分或所有组件集成的集成电路。SoC具有诸如低功耗待机时间长、使用寿命长和用途广泛的特性。
功耗分析是用于评估SoC的工具。传统的功耗分析方法可能因为各种原因导致结果不准确。因此,需要一种能够准确地对SoC的功耗进行分析的技术。
发明内容
根据本公开的示例实施例,提供了一种用于片上系统(SoC)功耗分析的方法,所述方法包括:监测所述片上系统的多个关键参数,其中,所述多个关键参数与所述片上系统的功耗相关;基于所述多个关键参数,检测所述片上系统的异常类型;调用多个配置文件之中的与检测到的异常类型对应的配置文件;监测并收集调用的配置文件所包括的参数集中的每个参数,以形成日志;以及基于所述日志对所述片上系统执行基于功耗的分析。
根据本公开的示例实施例,信道信息包括应用数据、日志数据、非易失性数据和接口控制数据中的至少一者;存储器接口信息包括存储器接口连接的次数和时长中的至少一者;小区切换信息包括切换小区的次数、无线资源控制建立次数和时长中的至少一者;无线电接入注册信息包括无线电接入切换次数和注册状态的变化中的至少一者;SIT消息信息包括SIT消息的数量,SIT消息包含应用处理器与通信处理器之间的请求和指示消息;并且片上系统睡眠信息包括寻呼间隔、当无线资源控制连接时片上系统开启和关闭时间中的至少一者。
根据本公开的示例实施例,提供了一种用于片上系统(SoC)功耗分析的系统,所述系统包括:处理器,被配置为:监测所述片上系统的多个关键参数,其中,所述多个关键参数与所述片上系统的功耗相关;基于所述多个关键参数,检测所述片上系统的异常类型;调用多个配置文件之中的与检测到的异常类型对应的配置文件;监测并收集调用的配置文件所包括的参数集中的每个参数,以形成日志;并且基于所述日志对所述片上系统执行基于功耗的分析。
根据本公开的示例实施例,处理器还被配置为:基于检测到的异常类型,确定导致所述片上系统的功耗异常的硬件模块和/或软件模块;并且通过使用所述日志,检测确定的硬件模块和/或软件模块中的错误。
根据本公开的示例实施例,处理器还被配置为:当检测到异常类型时,监测并收集调用的配置文件所包括的参数集中的每个参数以形成日志。
根据本公开的示例实施例,检测所述片上系统的异常类型的处理包括:确定所述多个关键参数之中的处于各自异常范围内的关键参数作为异常关键参数;以及基于异常关键参数,获取所述片上系统的异常类型。
根据本公开的示例实施例,确定所述多个关键参数之中的处于各自异常范围内的关键参数作为异常关键参数的处理包括:将所述多个关键参数之中的处于各自异常范围内持续预定时间或预定次数的关键参数作为异常关键参数。
根据本公开的示例实施例,获取所述片上系统的异常类型的处理包括:从预定映射表获取与确定的异常关键参数所形成的参数集对应的所述片上系统的异常类型。
根据本公开的示例实施例,每个配置文件所包括的参数集包括至少一个参数组,并且所述至少一个参数组中的每个包括至少一个参数。
根据本公开的示例实施例,不同的异常类型对应于不同的配置文件。
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