[发明专利]一种等离子体绕流场电子密度分布电磁修正方法在审

专利信息
申请号: 202310314477.6 申请日: 2023-03-28
公开(公告)号: CN116341345A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 邓浩川;满良;冯雪健;吴洋 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G06F30/25 分类号: G06F30/25;G06F30/28;G06F30/27
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 周娇娇
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 等离子体 绕流场 电子密度 分布 电磁 修正 方法
【权利要求书】:

1.一种等离子体绕流场电子密度分布电磁修正方法,其特征在于:包括以下步骤:

Ⅰ.仿真计算模型表面的电子密度,将仿真计算的绕流场电子密度分布作为基础分布;

Ⅱ.通过观测点的RCS测量结果,反演修正函数;将修正函数在原点处展开为泰勒级数,得到修正函数为:

通过修正函数与基础分布在任意位置相乘获得任意位置电子密度的修正值;

Ⅲ.由遗传算法筛选出的最优个体即为反演修正结果。

2.根据权利要求1所述的一种等离子体绕流场电子密度分布电磁修正方法,其特征在于:修正函数Corrp()为任意位置处电子密度的真实值与基础值之间的比值。

3.根据权利要求2所述的一种等离子体绕流场电子密度分布电磁修正方法,其特征在于:对修正函数中的N取1阶近似后为:

Corrp(x′,y′,z′)=Corrp(0,0,0)+a1x′+b1y′+c1z′。

4.根据权利要求3所述的一种等离子体绕流场电子密度分布电磁修正方法,其特征在于:在用遗传算法对等离子体绕流场进行参数反演时,先定义相应的目标代价函数:

其中,I表示频率观察点数目;

表示有等离子体绕流场下,实验测量的固定观察角(场点)处在频率fi处的RCS值;

表示只有本体情形下,实验测量的固定观察角(场点)处在频率fi处的RCS值;

表示有等离子体绕流场下,仿真计算的固定观察角(场点)处在频率fi处的RCS值;

表示只有本体情形下,仿真计算的固定观察角(场点)处在频率fi处的RCS值;

根据有等离子体绕流场下,流场分布由时域有限差分方法计算得到。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京环境特性研究所,未经北京环境特性研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202310314477.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top