[发明专利]芯片制造特殊站点产能达成预测方法及系统在审
申请号: | 202310318972.4 | 申请日: | 2023-03-29 |
公开(公告)号: | CN116384486A | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
发明(设计)人: | 曹锋;周菁;钱春霞;陈广;刘帆;徐秋晨;郑小平 | 申请(专利权)人: | 上海华力集成电路制造有限公司 |
主分类号: | G06N5/01 | 分类号: | G06N5/01;G06N20/00;G06Q10/04;G06F18/2431;G06F18/213;G06F18/214;G06Q50/04 |
代理公司: | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人: | 闫学文 |
地址: | 201314*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 制造 特殊 站点 产能 达成 预测 方法 系统 | ||
1.一种芯片制造特殊站点产能达成预测方法,其特征在于,包括:
采集特殊站点的历史数据;
对所述历史数据进行预处理;
基于随机森林算法对预处理后的数据进行模型训练,构建并优化随机森林模型;
对设定的产能目标进行预处理后输入所述随机森林模型,输出预测结果。
2.根据权利要求1所述的芯片制造特殊站点产能达成预测方法,其特征在于,对所述历史数据进行预处理的步骤具体包括:
对所述历史数据进行汇总计算;
将汇总计算后的数据进行特征化处理,得到模型输入特征。
3.根据权利要求2所述的芯片制造特殊站点产能达成预测方法,其特征在于,对所述历史数据进行汇总计算包括缺失值处理,异常值处理和标准化处理。
4.根据权利要求2所述的芯片制造特殊站点产能达成预测方法,其特征在于,将汇总计算后的数据进行特征化处理的步骤具体包括:
将汇总计算后的数据转换为数值特征;
采用主成分分析法对所述数值特征进行降维处理;
对降维处理后的数值特征进行再选择,得到所述模型输入特征。
5.根据权利要求4所述的芯片制造特殊站点产能达成预测方法,其特征在于,采用过滤式、嵌入式或包裹式的方法对降维处理后的数值特征进行再选择。
6.根据权利要求4所述的芯片制造特殊站点产能达成预测方法,其特征在于,根据所述数值特征之间的关联性对所述模型输入特征进行加权处理。
7.根据权利要求1所述的芯片制造特殊站点产能达成预测方法,其特征在于,基于随机森林算法对预处理后的数据进行模型训练的步骤具体包括:
对预处理后的数据进行集中随机抽样,构成若干个不同的样本数据集,按照预设比例划分训练集与测试集;
设置模型超参数;
采用有放回的随机抽样方式建立多个决策树,形成随机森林;
设定划分依据为基尼系,根据划分结果确定最优的模型超参数。
8.根据权利要求7所述的芯片制造特殊站点产能达成预测方法,其特征在于,采取网格搜索与交叉验证对超参数进行设置。
9.一种芯片制造特殊站点产能达成预测系统,其特征在于,包括:
采集模块,被配置为采集特殊站点的历史数据;
预处理模块,被配置为对所述历史数据进行预处理;
模型构建模块,被配置为基于随机森林算法对预处理后的数据进行模型训练,构建并优化随机森林模型;
预测模块,被配置为对设定的产能目标进行预处理后输入所述随机森林模型,输出预测结果。
10.一种可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被执行时能实现根据权利要求1-8中任一项所述的芯片制造特殊站点产能达成预测方法。
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