[发明专利]过孔检查方法、装置、工具、电子设备和可读存储介质

说明书

本发明提供了一种过孔检查方法、装置、工具、电子设备和可读存储介质。所述过孔检查方法包括：获取印刷电路板对应的设计文件，并基于设计文件确定印刷电路板中过孔的孔径值区间和孔径公差的对应关系以及所述过孔的过孔设计参数；根据孔径值区间和孔径公差的对应关系，创建过孔公差数据库；根据过孔设计参数，创建与目标检查区域对应的待检区域数据库；基于目标检查区域，确定与目标检查区域对应的检查规则值；根据过孔公差数据库和/或待检区域数据库、以及检查规则值，确定过孔检查结果。提高了过孔检查过程的检查效率和检查结果的准确性，避免了因过孔使用错误引入的信号失真问题和短路烧板问题，进而提升了印刷电路板产品的设计质量。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种过孔检查方法、装置、工具、电子设备和可读存储介质。

背景技术

印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)作为服务器的重要组成部分，其上设置的器件数量和走线密度随着服务器性能的提高而不断增加。在印刷电路板的双面板和多层板中，为连通各层之间的印制导线，不可避免的需要在各层需要连通的导线的交汇处设置过孔。当对印刷电路板进行钻孔制作时，由于制程能力的限制，易导致在印刷电路板上制备的过孔的公差过大，在过孔公差过大的情况下，在电源区易发生短路烧板的质量问题；同时，在过孔的孔壁距离其他过孔的孔壁较远时，在高密区(BGA，Ball Grid Array)由于信号没有参考回流路径，易导致信号阻抗突变，引发信号失真的质量问题。

基于上述质量问题，印刷电路板在不同应用场景下通常会使用具有不同参数的过孔。目前主要通过人工目检的方式根据不同使用场景对过孔进行检查，以防止短路和信号失真问题的发生。

但是，随着印刷电路板上设置的器件和走线密度的不断增加，在印刷电路板上设置的过孔数量也不断增长，通过人工目检的方式不仅效率低下而且极易发生漏检、误检问题，无法保证检查效率和检查准确率。

发明内容

本发明实施例提供了一种过孔检查方法、装置、工具、电子设备和可读存储介质_，以解决相关技术中过孔检查效率低和准确率低的问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种过孔检查方法，包括：

获取印刷电路板对应的设计文件，并基于所述设计文件确定所述印刷电路板中过孔的孔径值区间和孔径公差的对应关系以及所述过孔的过孔设计参数；

根据所述孔径值区间和孔径公差的对应关系，创建过孔公差数据库；

根据所述过孔设计参数，创建与目标检查区域对应的待检区域数据库；

基于所述目标检查区域，确定与所述目标检查区域对应的检查规则值；

根据所述过孔公差数据库和/或所述待检区域数据库、以及所述检查规则值，确定过孔检查结果。

可选地，所述根据所述孔径值区间和孔径公差的对应关系，创建过孔公差数据库，包括：

根据所述孔径公差，确定所述孔径公差的孔径正公差；

根据所述孔径值区间和孔径公差的对应关系，在所述孔径正公差相同的情况下，确定与所述孔径正公差对应的所述孔径值区间；

将所述孔径值区间进行合并；

根据合并后的孔径值区间和所述孔径正公差的对应关系，创建过孔公差数据库。

可选地，所述根据所述过孔设计参数，创建与目标检查区域对应的待检区域数据库，包括：

根据所述过孔设计参数，从所述过孔设计参数中提取与目标检查区域对应的目标过孔设计参数；所述目标过孔设计参数包括所述过孔设计参数中的部分或全部参数；

根据所述目标过孔设计参数，创建与所述目标检查区域对应的待检区域数据库。