[发明专利]设备性能评估方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202310326818.1 | 申请日: | 2023-03-29 |
公开(公告)号: | CN116302893A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 张涛;孙浩;韩英奇;贾梦磊 | 申请(专利权)人: | 中国工商银行股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张博 |
地址: | 100140 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 设备 性能 评估 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种设备性能评估方法,包括:
获取目标设备的多个参数信息,所述参数信息包括属性信息和状态信息;
确定每个所述参数信息的信息类型;
针对每个所述参数信息,利用与所述参数信息的信息类型相匹配的性能评估模式处理所述参数信息,得到性能评估值;
基于多个所述性能评估值,确定用于表征所述目标设备的设备性能的综合评估值。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述基于多个所述性能评估值,确定关于所述设备的综合评估值,包括:
基于所述多个参数信息各自的参数类型,确定与设备资源消耗相匹配的至少一个第一目标参数信息,和与设备性能稳定性相匹配的至少一个第二目标参数信息;
基于所述至少一个第一目标参数信息各自的性能评估值,确定设备资源消耗值;
基于所述至少一个第二目标参数信息各自的性能评估值,确定设备性能稳定值;
基于所述设备资源消耗值和所述设备性能稳定值,得到所述综合评估值。
3.根据权利要求1所述的方法,还包括:
在利用与所述参数信息的信息类型相匹配的性能评估模式处理所述参数信息之前,针对每个所述参数信息,基于预定第一映射表和所述参数信息的信息类型,确定与所述信息类型相匹配的性能评估模式,其中,所述预定第一映射表用于表征信息类型与性能评估模型之间的映射关系。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述针对每个所述参数信息,利用与所述信息类型相匹配的性能评估模式处理所述参数信息,得到性能评估值,包括:
针对每个所述参数信息,确定与所述参数信息相匹配的参数阈值;
确定与所述性能评估模式相对应的预定第二映射表,其中,所述预定第二映射表用于表征参数阈值与评估值之间的映射关系;
基于所述预定第二映射表和所述参数阈值,确定所述参数信息的性能评估值。
5.根据权利要求2所述的方法,其中,所述属性信息包括设备容积和设备配置;所述状态信息包括设备功耗、使用时长、设备故障率以及故障时长;所述第一目标参数信息包括以下至少一项:设备容积、设备功耗;所述第二目标参数信息包括以下至少一项:设备使用时长、设备配置、设备故障率、故障时长。
6.根据权利要求1所述的方法,还包括:
接收来自企业终端设备发送的参数信息更新请求,从所述请求中获取多个待更新参数信息;
按照信息类型,基于所述多个待更新参数信息,更新历史参数表格中的历史参数信息,得到更新后的参数表格;
从所述更新后的参数表格中获取所述设备的多个参数信息。
7.根据权利要求6所述的方法,还包括:
在所述综合评估值为预定值的情况下,基于所述综合评估值,生成提示信息,其中,所述提示信息用于表征所述设备需要进行置换或者进行扩容;以及
将所述提示信息发送至所述企业终端设备。
8.一种设备性能评估装置,包括:
获取模块,用于获取目标设备的多个参数信息,所述参数信息包括属性信息和状态信息;
类型确定模块,用于确定每个所述参数信息的信息类型;
评估模块,用于针对每个所述参数信息,利用与所述参数信息的信息类型相匹配的性能评估模式处理所述参数信息,得到性能评估值;
计算模块,用于基于多个所述性能评估值,确定用于表征所述目标设备的设备性能的综合评估值。
9.一种电子设备,包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序,
其中,当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时,使得所述一个或多个处理器执行根据权利要求1~7中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有可执行指令,该指令被处理器执行时使处理器执行根据权利要求1~7中任一项所述的方法。
11.一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现根据权利要求1~7中任一项所述的方法。
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