[发明专利]一种对光模块进行自动老化测试的测试系统

说明书

本发明涉及一种对光模块进行自动老化测试的测试系统，包括控制电脑、承载待测光模块的测试箱；控制电脑基于预先定义的老化测试配置信息，对测试箱内的待测光模块和测试箱进行控制，以使测试箱基于预设温度范围对待测光模块进行老化测试；所述测试箱包括测试主板；所述待测光模块进行分层放置且电连接测试主板，控制电脑通过测试主板控制每个待测光模块；所述测试箱的一侧面设置有用于对待测光模块进行散热且保持测试箱体内温度在预设范围内的散热结构。本发明能够提升光模块老化测试的测试效率和准确度，同时降低了人工干预的成本和风险。

技术领域

本发明涉及一种对光模块进行自动老化测试的测试系统。

背景技术

光模块主要由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接受两部分，光模块的作用就是发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号，光模块是进行光电和电光转换的光电子器件，为保证光模块的产品质量，需要对光模块进行老化测试，如在测试箱中检测光模块在不同温度中的使用寿命。

传统的进行老化测试的测试箱，通常只是简单的提供测试箱供电和监控信息面板显示的功能，在老化测试中需要操作人员的大量参与，同时无法精确控制老化测试环境，对于大批量的光模块老化测试，难以满足效率和准确度的要求。

发明内容

(一)要解决的技术问题

鉴于现有技术的上述缺点、不足，本发明提供了一种对光模块进行自动老化测试的测试系统。

(二)技术方案

为了达到上述目的，本发明采用的主要技术方案包括：

第一方面，本发明实施例提供一种对光模块进行自动老化测试的测试系统，包括控制电脑、承载待测光模块的测试箱；

控制电脑基于预先定义的老化测试配置信息，对测试箱内的待测光模块和测试箱进行控制，以使测试箱基于预设温度范围对待测光模块进行老化测试；

所述测试箱包括：测试主板；

所述待测光模块进行分层放置且电连接测试主板，控制电脑通过测试主板控制每个待测光模块；

所述测试箱的一侧面设置有用于对待测光模块进行散热且保持测试箱体内温度在预设范围内的散热结构。

可选地，所述测试主板包括层板和背板，

所述背板作为测试主板的支撑结构设置于测试箱的一侧面；

所述层板通过可拆卸插拔方式与背板电连接；

每一层板通过可插拔方式插接至少一个待测光模块。

可选地，所述散热结构为设置在测试箱一侧面且并排放置的多个散热风扇，每一散热风扇借助于支撑架固定在测试箱的侧面，且电连接测试主板；

所述测试箱为半封闭结构，利用待测光模块工作发热做热源，通过控制电脑获取待测光模块工作温度，并根据预设温度范围控制所述散热风扇转速，实现两侧对流散热达到恒温效果。

可选地，所述测试箱还包括DC程控电源，

所述DC程控电源与测试主板、散热结构电连接；

所述DC程控电源与控制电脑通信连接，接收控制信号对测试箱及待测光模块进行供电/断电。

可选地，所述DC程控电源与控制电脑通过串口通信连接。

可选地，所述控制电脑在测试过程中按照预设时间间隔获取待测光模块的状态信息并展示。

可选地，所述待测光模块的状态信息包括并不限于以下一种或多种：

光模块类型，电压，电流，温度，发射功率，接收功率，误码率。