[发明专利]基于空间光调制器的景深恢复装置、方法、设备和介质在审
申请号: | 202310356350.0 | 申请日: | 2023-04-06 |
公开(公告)号: | CN116243471A | 公开(公告)日: | 2023-06-09 |
发明(设计)人: | 王奕;黄震宇 | 申请(专利权)人: | 苏州芯之光科技有限公司 |
主分类号: | G02B21/36 | 分类号: | G02B21/36;G02B27/00;G02B21/02;G02B21/34 |
代理公司: | 苏州汇诚汇智专利代理事务所(普通合伙) 32623 | 代理人: | 王春丽 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 空间 调制器 景深 恢复 装置 方法 设备 介质 | ||
本发明公开了基于空间光调制器的景深恢复装置、方法、设备和介质,方法包括分别获取第一光路的第一图像数据和第二光路的第二图像数据;对第一图像数据和第二图像数据进行视差计算,得到样品的第一双目视差图;利用视差原理对第一双目视差图进行处理,重建出样本的第一三维形貌图;设置景深的深度校准阈值范围,根据深度校准阈值范围在第一三维形貌图划分若干个用于像差校准的网格;通过对网格的像差校准完成视场像差的校准;依据校准后的像差,重新获取其对应的第二双目视差图;利用视差原理对第二双目视差图进行处理,直至重建出满足景深精度恢复要求的第二三维形貌图。本发明提高了景深的深度恢复精度及深度恢复的范围。
技术领域
本发明涉及光学成像技术领域,具体为基于空间光调制器的基于空间光调制器的景深恢复装置、方法、设备和介质。
背景技术
传统技术中,常用两类结构实现大景深显微观测,其均具有一定的技术局限:
体视显微系统基于双目体视显微原理计算不同深度的样本视差角的差异构建数学模型计算样本的深度信息,常见的体视显微结构包括格里诺型体视结构和CMO型体视结构,
其技术局限有二:
景深小:这类系统的景深与系统的数值孔径相关,即同时高空间分辨能力与景深两系统参数是相互制约的;
物面离焦将会导致像质的严重恶化:高分辨显微物镜的数值孔径大,其对球差敏感,对于具有一定深度的样品来说,位于其物距平面上的样本区域将会清晰成像,其余离焦区域则成像模糊。
传统的变焦测量方法结合光学系统有限景深和精密的垂直扫描技术,即步进地改变物距,从而调整不同深度物的聚焦程度获取多聚焦图像序列,再通过图像处理算法实现全焦图像融合。
其技术局限有二:
样本拍摄时间长:步进式地调整物距会延长拍摄时间;
机械装置性能要求高:这种系统对机械控制系统精度和稳定度提出了较高的要求。
发明内容
为克服上述背景技术中现有体视显微系统景深小:这类系统的景深与系统的数值孔径相关,即同时高空间分辨能力与景深两系统参数是相互制约的;物面离焦将会导致像质的严重恶化:高分辨显微物镜的数值孔径大,其对球差敏感,对于具有一定深度的样品来说,位于其物距平面上的样本区域将会清晰成像,其余离焦区域则成像模糊的缺点,本发明的目的在于提供基于空间光调制器的景深恢复装置、方法、设备和介质。
为了达到以上目的,本发明采用如下的技术方案:
本发明的第一方面,提供基于空间光调制器的景深恢复装置,包括依次设置的样品载置台、显微物镜、光调制模组、镜筒模组和光电探测器;所述光调制模组包括第一空间光调制器和第二空间光调制器,所述第一空间光调制器和第二空间光调制器相对于所述显微物镜的中心轴线对称;所述镜筒模组包括第一变焦筒镜组和第二变焦筒镜组,所述第一变焦筒镜组和第二变焦筒镜组相对于所述显微物镜的中心轴线对称;
将待观测样本置于所述样品载置台,观测样本散射的光波通过显微物镜收集,显微物镜将收集的光波放大成像后形成第一光路和第二光路;所述第一空间光调制器设置于第一光路入瞳处,所述第一光路的光波依次经由第一空间光调制器和第一变焦筒镜组汇聚成像于光电探测器上;所述第二空间光调制器设置于第二光路入瞳处,所述第二光路的光波依次经由第二空间光调制器和第二变焦筒镜组汇聚成像于光电探测器上;
所述光电探测器和计算机连接。
在一些可能的实施方式中,所述第一空间光调制器和第二空间光调制器在对光波进行调制前,分别进行视场像差调制。
本发明的第二方面,提供基于空间光调制器的景深恢复方法,应用于上述的基于空间光调制器的景深恢复装置,所述景深恢复方法包括如下:
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