[发明专利]一种标签检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种标签检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取所述标签的成像图像；

对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到局部标签缺陷；

对所述成像图像进行整体标签检测，得到完整标签缺陷；

对所述成像图像进行偏移缺陷检测，得到偏移标签缺陷；

根据所述局部标签缺陷、所述完整标签缺陷和所述偏移标签缺陷获得检测结果。

2.根据权利要求1所述的标签检测方法，其特征在于，所述对所述成像图像进行偏移缺陷检测，得到偏移标签缺陷的步骤，包括：

根据预先构建的标签字符模型对所述成像图像进行测量操作，得到特征点；

根据预先构建的关键点检测模型对所述特征点进行识别，得到角点像素坐标；

根据所述角点像素坐标对所述标签的实际距离进行匹配，得到所述偏移标签缺陷。

3.根据权利要求2所述的标签检测方法，其特征在于，预先构建标签字符模型的步骤，包括：

获取所述成像图像中的字符信息；

根据所述字符信息构建设计图；

根据所述设计图生成标签字符模型。

4.根据权利要求2所述的标签检测方法，其特征在于，所述根据所述角点像素坐标对所述标签的实际距离进行匹配，得到所述偏移标签缺陷的步骤，包括：

获取比例尺信息；

根据所述角点像素坐标获得像素差；

将所述像素差与所述标签的实际距离根据所述比例尺信息进行匹配，得到匹配结果；

判断所述匹配结果是否同时符合上限阈值和下限阈值，若是，将所述匹配结果作为所述偏移标签缺陷。

5.根据权利要求1所述的标签检测方法，其特征在于，所述对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到局部标签缺陷的步骤，包括：

对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到置信度信息；

将所述置信度信息与置信度阈值进行对比，得到所述局部标签缺陷。

6.根据权利要求1所述的标签检测方法，其特征在于，所述对所述成像图像进行整体标签检测，得到完整标签缺陷的步骤，包括：

对所述成像图像进行整体标签检测，得到面积参数；

将所述面积参数与面积阈值进行对比，得到所述完整标签缺陷。

7.一种标签检测装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取所述标签的成像图像；

缺陷提取模块，用于对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到局部标签缺陷；还用于对所述成像图像进行整体标签检测，得到完整标签缺陷；还用于对所述成像图像进行偏移缺陷检测，得到偏移标签缺陷；

检测模块，用于根据所述局部标签缺陷、所述完整标签缺陷和所述偏移标签缺陷获得检测结果。

8.根据权利要求7所述的标签检测装置，其特征在于，所述缺陷检测模块还用于：

根据预先构建的标签字符模型对所述成像图像进行测量操作，得到特征点；

根据预先构建的关键点检测模型对所述特征点进行识别，得到角点像素坐标；

根据所述角点像素坐标对所述标签的实际距离进行匹配，得到所述偏移标签缺陷。

9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器及处理器，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序以使所述电子设备执行根据权利要求1至6中任一项所述的标签检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的标签检测方法。