[发明专利]分布式丝线光纤微弯测试方法、测试系统及测试装置

权利要求书

1.一种分布式丝线光纤微弯测试方法，其特征在于，具体包括如下步骤：

S1、调平丝线固定金属底板：调整丝线固定金属底板四个角位的水平调节螺丝，使丝线固定金属底板保持水平，在丝线固定金属底板上平行布放有若干条丝线；

S2、布置受试光纤：将受试光纤来回连续垂直布放在丝线表面，然后使用辅助胶带固定受试光纤避免交叉和重叠；

S3、连接测试仪：将受试光纤与测试尾纤熔接，然后将测试尾纤连接测试仪，通过测试仪测试受试光纤在规定波长下的初始衰减值，并将测试的数据记录为a1；

S4、放置上压金属板：将上压金属板压在丝线固定金属底板表面，确保所有的丝线与光纤的交叉点全部压合；

S5、增加配重：对光纤受力点施加压力，根据所需测试的光纤点压力在上压金属板上增加相应配重；

S6、施压后测试：测试受试光纤在施加压力的作用下产生附加衰减，使用测试仪测试同一波长下受试光纤受力状态下的衰减值，并将测试的数据记录为a2；

S7、计算：计算100个光纤受力点受力状态下的附加衰减值，设受试光纤施加压力前后的衰减增加值为a，则a= （a2-a1）/Q*100，Q为总的受力光纤点数；

S8、重复步骤S2-S7，对比丝线数量相同、光纤受力点受力值相同，仅改变丝线直径时的衰减增加值以判定改变后的光纤微弯敏感性能；

S9、重复步骤S2-S8，对比丝线数量相同、丝线直径相同，仅改变光纤点受力值时的衰减增加值以判定改变后的光纤微弯敏感性能；

S10、重复步骤S2-S8，对比光纤点受力值相同、丝线直径相同，仅改变丝线数量时的衰减增加值以判定改变后的光纤微弯敏感性能。

2.一种分布式丝线光纤微弯测试系统，其特征在于，用于实现权利要求1所述的测试方法的步骤，包括：分布式丝线光纤微弯测试装置和测试仪。

3.根据权利要求2所述的分布式丝线光纤微弯测试系统，其特征在于，所述测试仪包括光时域反射仪，将丝线表面受试光纤的引出端与测试尾纤熔接，然后将测试尾纤垂直插入光时域反射仪的尾纤接口，通过该尾纤接口连接光时域反射仪。

4.根据权利要求2所述的分布式丝线光纤微弯测试系统，其特征在于，所述测试仪包括稳定光源和光功率计，将受试光纤的两端分别与测试尾纤熔接，然后将两端测试尾纤分别连接稳定光源的发射口和光功率计的接收口。

5.一种分布式丝线光纤微弯测试装置，其特征在于，该测试装置应用于权利要求3或权利要求4的分布式丝线光纤微弯测试系统，包括：

作为受试光纤布放平台和力传输媒介的丝线固定金属底板；

作为施力载体的上压金属板和配重；

所述丝线固定金属底板表面安装有丝线，所述丝线固定金属底板两侧设有能够使丝线缠绕在并平行布放在丝线固定金属底板表面的锁紧螺丝和销钉，受试光纤以与丝线布置方向相垂直的方式被设置于丝线表面，使用时将上压金属板压在丝线固定金属底板表面，然后在上压金属板增加配重对受试光纤施压，使丝线表面每个点的受试光纤受力发生形变，产生微小弯曲。

6.根据权利要求5所述的分布式丝线光纤微弯测试装置，其特征在于，所述丝线固定金属底板四个角位设有水平调整螺丝以调整丝线固定金属底板的水平。

7.根据权利要求5所述的分布式丝线光纤微弯测试装置，其特征在于，所述丝线固定金属底板的尺寸大小为350~500*350~500*2~10mm，所述上压金属板的尺寸大小与丝线固定金属底板相适配。

8.根据权利要求5所述的分布式丝线光纤微弯测试装置，其特征在于，所述锁紧螺丝的数量为四个，以对称方式布置于丝线固定金属底板两侧的两端；所述销钉设有若干个，两两对称布置于两端的锁紧螺丝之间。

9.根据权利要求5所述的分布式丝线光纤微弯测试装置，其特征在于，所述丝线为金属丝线或非金属丝线，所述金属丝线可为铜丝等金属丝，所述丝线直径为0.2~1.0mm，丝线数量为20~80，丝线分布间隔为0.5~20mm，受试光纤长度大于3m。

10.根据权利要求9所述的分布式丝线光纤微弯测试装置，其特征在于，所述受试光纤来回连续垂直布放于丝线表面，受试光纤与丝线的接触点为光纤受力点，每个点的光纤受力为1~10g。