[发明专利]芯片验证方法、装置、系统、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：

获取被测芯片的所有功能覆盖点中各功能覆盖点与输入激励之间的映射关系；

基于所述映射关系、预先编写的测试用例模板和输入激励的约束文件，生成每个功能覆盖点各自对应的测试用例以及用于确定覆盖率的功能覆盖率代码；

利用所有所述测试用例，对各功能覆盖点进行测试，并利用所述功能覆盖率代码实时确定所述功能覆盖率代码输出的覆盖率；

实时检测所述覆盖率是否大于等于预设阈值，并在大于等于所述预设阈值的情况下，确定对所有功能覆盖点完成验证；

所述基于所述映射关系、预先编写的测试用例模板和输入激励的约束文件，生成每个功能覆盖点各自对应的测试用例以及用于确定覆盖率的功能覆盖率代码，包括：

对于任一功能覆盖点，基于所述映射关系确定所述功能覆盖点对应的输入激励，并从所述约束文件中提取所述输入激励的约束信息；

基于所述约束信息对测试用例模板中所述输入激励对应的待填充项进行填充，得到所述功能覆盖点对应的测试用例；

基于所有所述测试用例生成功能覆盖率代码。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取被测芯片的所有功能覆盖点中各功能覆盖点与输入激励之间的映射关系，包括：

获取被测芯片的预设功能覆盖率计划书，提取所述功能覆盖率计划书中的所有功能覆盖点以及各功能覆盖点对应的输入激励；

对于任一功能覆盖点，将所述功能覆盖点与所述输入激励进行映射，得到所述功能覆盖点与所述输入激励的映射关系。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所有所述测试用例，对各功能覆盖点进行测试，包括：

获取所有所述测试用例，将所有所述测试用例加入到预设集合中，得到测试序列集合；

基于所述测试序列集合，确定每个测试用例各自对应的被测芯片接口的输入信息；

将所述输入信息输入到被测芯片的输入端，以完成对所述被测芯片的测试。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述功能覆盖率代码实时确定所述功能覆盖率代码输出的覆盖率，包括：

监测所述被测芯片输入端的输入信号；

将所述输入信号作为所述功能覆盖率代码入参，运行所述功能覆盖率代码，得到所述功能覆盖率代码实时输出的覆盖率。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

检测所述被测芯片输入端的输入信号和输出端的输出信号；

利用预设的结果预测组件，根据所述输入信号对输出进行预测，得到预测输出信息；

比对所述预测输出信息与所述输出信息是否匹配，并在不匹配的情况下进行错误告警。

6.一种芯片验证装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取被测芯片的所有功能覆盖点中各功能覆盖点与输入激励之间的映射关系；

生成模块，用于基于所述映射关系、预先编写的测试用例模板和输入激励的约束文件，生成每个功能覆盖点各自对应的测试用例以及用于确定覆盖率的功能覆盖率代码；

测试模块，用于利用所有所述测试用例，对各功能覆盖点进行测试，并利用所述功能覆盖率代码实时确定所述功能覆盖率代码输出的覆盖率；

验证完成判断模块，用于实时检测所述覆盖率是否大于等于预设阈值，并在大于等于所述预设阈值的情况下，确定对所有功能覆盖点完成验证；

所述生成模块具体用于：

对于任一功能覆盖点，基于所述映射关系确定所述功能覆盖点对应的输入激励，并从所述约束文件中提取所述输入激励的约束信息；

基于所述约束信息对测试用例模板中所述输入激励对应的待填充项进行填充，得到所述功能覆盖点对应的测试用例；

基于所有所述测试用例生成功能覆盖率代码。