[发明专利]一种面向工业视觉质检的两阶段缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 202310471461.6 申请日: 2023-04-27
公开(公告)号: CN116486167A 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 彭海英;谭磊;张普宁;杨志刚;吴大鹏;王汝言 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G06V10/764 分类号: G06V10/764;G06V10/774;G06V10/80;G06V10/82
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 廖曦
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 面向 工业 视觉 质检 阶段 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种面向工业视觉质检的两阶段缺陷检测方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:

S1:收集工业环境下的产品质量检测的图像数据集,并且存储到数据库中;

S2:对数据集进行清洗处理,去除图像质量较差和模糊不清的图像;

S3:搭建两阶段缺陷检测模型,包括局部缺陷定位模块和缺陷类型预测模块两部分;

S4:在检测模型中引入多尺度特征融合方法,包括空洞卷积空间平衡特征金字塔结构ASBFPN;

S5:将数据集输入两阶段缺陷检测深度卷积神经网络模型中,通过模型训练学习到的特征进行预测;

S6:输出缺陷检测位置以及预测缺陷类型。

2.根据权利要求1所述的一种面向工业视觉质检的两阶段缺陷检测方法,其特征在于:所述对数据集进行清洗处理具体包括以下步骤:

S21:去除图像质量达到一定值的以及模糊不清的图像;

S22:去除指特征相似度达到一定值的图像;

S23:根据正样本和负样本,将数据筛选好。

3.根据权利要求1所述的一种面向工业视觉质检的两阶段缺陷检测方法,其特征在于:所述搭建两阶段缺陷检测模型包括:

1)局部缺陷预测模块;通过Inception模块应用系数卷积神经网络来预测图像中缺陷的可能性;在卷积神经网络中找到一个局部最优的稀疏结构,在每个模块中,在3×3的卷积之前使用一个1×1的卷积来减少输出维度;其次,采用灰度图像作为检测框架的输入;为避免表示瓶颈,卷积核的大小用3×3的大小来代替5×5和7×7;邻接网络的Inception部分,使用两个Inception结构,其中Inception模块1用于增加网络稀疏,Inception模块2用于增加稀疏性,同时减少网格大小;后一部分是卷积网络的通用结构;为防止过拟合,使用40%输出下降率的dropout层;在网络的最后,使用线性层作为分类器;

2)全局缺陷识别模块;在预测完所有的盒形图像后,得到输入图像的特征图;然后应用简单的卷积神经网络,根据尺寸为32×24大小图像进行识别缺陷的类型;首先,将特征图归一化为一个大小为32×32,通过零填充的方式;

采用LeNet模型对特征图进行识别,LeNet模型包括7层,包括3个卷积层、2个池化层和2个全连接层;三个卷积层的核都是5×5,两个池化层的窗口大小都是2×2;用Relu作为它的激活函数;与最后一个卷积层连接的全连接层的主要功能是特征的融合和增强;最后,采用softmax分类器进行分类预测。

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