[发明专利]一种建筑物立面测量坐标转换方法在审

专利信息
申请号: 202310474286.6 申请日: 2023-04-27
公开(公告)号: CN116481501A 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 吴继忠 申请(专利权)人: 南京工业大学
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211800 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 建筑物 测量 坐标 转换 方法
【权利要求书】:

1.一种建筑物立面测量坐标转换方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

S1:在待测建筑物立面前架设无反射棱镜全站仪,确保全站仪观测视野能完全覆盖待测建筑物立面,利用全站仪观测建筑物立面上的房屋主线、门、窗户、柱、台阶等要素的特征点,获得各要素特征点在自由坐标系下的三维坐标Pi=(Xi,Yi,Hi)T(i=1,2,…,n);其中,X、Y为观测点的平面坐标,H为观测点的高程,n为观测点数量;

S2:选择建筑物立面上房屋主线的左下特征点A和右下特征点B作为立面基准点,采用计算机根据公式得到A、B两点所在铅锤面∏的平面方程aX+bY+d=0的系数;其中,(XA,YA)为A点的平面坐标,(XB,YB)为B点的平面坐标;

S3:采用计算机根据公式得到各要素特征点在铅锤面∏上的投影点Pi′=(X′i,Yi′,H′i)T;其中,

S4:采用计算机根据公式得到铅锤面∏与自由坐标系YOH平面的夹角θ;其中,为铅锤面∏的法向量,为YOH平面的单位法向量(1,0,0),<>表示向量的点积;

S5:采用计算机根据公式Pi″=Pi′cos(θ)+(k×Pi′)sin(θ)+k<k,Pi′>(1-cos(θ)),得到空间旋转后各要素特征点的三维坐标Pi″=(X″i,Yi″,H″i)T;其中,×表示向量的叉积;

S6:分别取Yi″和H″i为各要素特征点在立面坐标系下的横坐标和纵坐标,导入成图软件展点,并编辑形成立面图。

2.根据权利要求1所述的一种建筑物立面测量坐标转换方法,其特征在于,所述步骤S2中使用建筑物立面上房屋主线左下和右下两个特征点来建立铅锤面。

3.根据权利要求1所述的一种建筑物立面测量坐标转换方法,其特征在于,所述步骤S3中确保各要素特征点通过投影变换后均严格位于同一铅锤面。

4.根据权利要求1所述的一种建筑物立面测量坐标转换方法,其特征在于,所述步骤S5中运用空间旋转整体将投影变换后的各要素特征点转换至正立面。

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