[发明专利]一种用于纳米孔的电流测量方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种用于纳米孔的电流测量方法，其特征在于，所述方法应用于纳米孔采集设备，所述方法包括：

根据预置的分组规则对及检测通道的数量对所述检测通道进行分组，得到多个检测通道组；在每一检测通道组包含的检测通道中配置同一种协议；

根据用户输入的采集需求信息，及预置的通道采样频率确定每一所述检测通道组中各检测通道的测量时间信息；所述测量时间信息包括采集时间区间及处理时间区间；

根据各所述检测通道的采集时间区间对纳米孔进行信息采集，得到纳米孔采集数据；

根据各所述检测通道的处理时间区间对与所述检测通道对应的纳米孔采集数据进行处理，得到对应的采集处理数据。

2.根据权利要求1所述的用于纳米孔的电流测量方法，其特征在于，所述根据预置的分组规则对及检测通道的数量对所述检测通道进行分组，得到多个检测通道组，包括：

根据所述分组规则所包含的数量阈值对所述检测通道进行分组，得到多个检测通道组，每一检测通道组包含的检测通道数量不大于所述数量阈值。

3.根据权利要求1所述的用于纳米孔的电流测量方法，其特征在于，其特征在于，所述根据预置的分组规则对及检测通道的数量对所述检测通道进行分组，得到多个检测通道组，包括：

根据所述分组规则所包含的通道类型对所述检测通道进行分组，得到多个检测通道组。

4.根据权利要求1所述的用于纳米孔的电流测量方法，其特征在于，所述根据用户输入的采集需求信息及预置的通道采样频率确定各检测通道的测量时间信息，包括：

根据电信号持续时间及采样周期计算得到对应的采样间隔时间；

根据预置的处理时间占比及所述采样间隔时间确定对应的处理时间区间；

根据所述电信号持续时长及所述处理时间区间确定错位时间；

根据所述错位时间依次确定各检测通道的测量时间信息；所述测量时间信息中采集时间区间与所述电信号持续时间相等。

5.根据权利要求1所述的用于纳米孔的电流测量方法，其特征在于，所述根据用户输入的采集需求信息及预置的通道采样频率确定各检测通道的测量时间信息，包括：

根据电信号持续时间及采样周期计算得到对应的采样间隔时间；

根据预置的处理时间占比及所述采样间隔时间确定对应的处理时间区间；

根据预置的空闲时间占比及所述采样间隔时间确定对应的空闲时间区间；

根据所述电信号持续时长、所述处理时间区间及所述空闲时间区间确定错位时间；

根据所述错位时间依次确定各检测通道的测量时间信息；所述测量时间信息中采集时间区间与所述电信号持续时间相等。

6.一种用于纳米孔的电流测量的装置，其特征在于，所述装置配置于纳米孔采集设备，所述装置包括：

检测通道分组单元，用于根据预置的分组规则对及检测通道的数量对所述检测通道进行分组，得到多个检测通道组；用于在每一检测通道组包含的检测通道中配置同一种协议；

时间周期测量单元，用于根据用户输入的采集需求信息及预置的通道采样频率确定每一所述检测通道组中各检测通道的测量时间信息；所述测量时间信息包括采集时间区间及处理时间区间；

纳米孔信息采集单元，用于根据各所述检测通道的采集时间区间对纳米孔进行信息采集，得到纳米孔采集数据；

数据处理单元，用于根据各所述检测通道的处理时间区间对与所述检测通道对应的纳米孔采集数据进行处理，得到对应的采集处理数据。

7.根据权利要求6所述的用于纳米孔的电流测量方法，其特征在于，所述检测通道分组单元包括第一分组单元；

所述第一分组单元，用于根据所述分组规则所包含的数量阈值对所述检测通道进行分组，得到多个检测通道组，每一检测通道组包含的检测通道数量不大于所述数量阈值。

8.根据权利要求6所述的用于纳米孔的电流测量方法，其特征在于，所述检测通道分组单元包括第二分组单元；

所述第二分组单元，用于根据所述分组规则所包含的通道类型对所述检测通道进行分组，得到多个检测通道组。