[发明专利]一种双层介质界面联合老化及实时界面介电特性测量装置在审
申请号: | 202310489691.5 | 申请日: | 2023-05-04 |
公开(公告)号: | CN116519577A | 公开(公告)日: | 2023-08-01 |
发明(设计)人: | 吴凯;吴少雷;董苏;冯玉;戚振彪;骆晨;孙亮亮;孙立成;周建军;左宇翔;陈振宁;刘蔚;胡钰杰;胡若男;史鑫鑫 | 申请(专利权)人: | 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院;国网安徽省电力有限公司 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00;G01N27/04;G01N27/22 |
代理公司: | 合肥云道尔知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34230 | 代理人: | 常雅雅 |
地址: | 230000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双层 介质 界面 联合 老化 实时 特性 测量 装置 | ||
1.一种双层介质界面联合老化及实时界面介电特性测量装置,其特征在于,所述装置包括:
界面施压装置,用于双层介质试样进行界面施压;
样品联合老化装置,用于使双层介质试样在电热力联合作用下完成老化过程;
实时检测界面电阻率电路,用于测量老化中双层介质试样的界面电阻率。
2.根据权利要求1所述的一种双层介质界面联合老化及实时界面介电特性测量装置,其特征在于,所述双层介质试样为SIR/XLPE样品。
3.根据权利要求2所述的一种双层介质界面联合老化及实时界面介电特性测量装置,其特征在于,所述SIR/XLPE样品中,SIR试样的中心凿有圆孔;
所述SIR/XLPE样品的上下表面均贴有屏蔽电极,以屏蔽XLPE、SIR材料内部的泄漏电流;
所述SIR/XLPE样品的SIR和XLP试样的界面处分别布置有高压电极和测试电极。
4.根据权利要求3所述的一种双层介质界面联合老化及实时界面介电特性测量装置,其特征在于,所述界面施压装置包括有机玻璃板、绝缘介质挡板、弹簧、螺栓以及螺母,其中,
所述螺栓至少两个,且均依次穿设于有机玻璃板以及两层绝缘介质挡板,并由螺母配合固定;
所述弹簧至少两个,分别套设于至少两个螺栓的中间部分,所述弹簧的两端分别于两层绝缘介质挡板接触;
所述SIR/XLPE样品设于有机玻璃板与其中一层绝缘介质挡板之间,其中一层绝缘介质挡板靠近有机玻璃板。
5.根据权利要求4所述的一种双层介质界面联合老化及实时界面介电特性测量装置,其特征在于,所述界面施压装置有多个,多个界面施压装置并联形成一个界面试样单元。
6.根据权利要求5所述的一种双层介质界面联合老化及实时界面介电特性测量装置,其特征在于,所述样品联合老化装置包括高压电源以及鼓风干燥箱,其中,
所述界面试样单元放置于鼓风干燥箱中,界面试样单元中,每个SIR/XLPE样品的上下屏蔽电极分别接地,并联的最后一个界面试样单元中的SIR/XLPE样品接入高压电源。
7.根据权利要求6所述的一种双层介质界面联合老化及实时界面介电特性测量装置,其特征在于,所述实时检测界面电阻率电路包括保护电阻、开关控制程序以及皮安表,其中,
所述开关控制程序包括开关组,所述开关组包括奇数序号的多个第一开关和偶数序号的多个第二开关,其中,奇数序号的多个第一开关均接地,偶数序号的多个第二开关均与皮安表电连接,其中,多个界面施压装置中的某个待测SIR/XLPE试样的开关接入至对应偶数序号开关从而与皮安表电连接,其余SIR/XLPE样品分别接入对应奇数序号开关。
8.一种双层介质界面联合老化及实时界面介电特性测量装置的测试方法,所述测量装置采用如权利要求7所述的测量装置,其特征在于,所述测试方法包括:
1)制备具有指定厚度的SIR/XLPE样品的双层介质试样,并在硅橡胶中间挖一个小孔;
在整个试样的上下表面分别贴上屏蔽电极,用以屏蔽SIR、XLPE试样内部的泄露电流;
在试样中间放入测试电极和高压电极,并分别在测试电极和高压电极处连接一根导线,其中与测试电极相连的导线另一端从SIR中间开设的圆孔穿过用以接地或与皮安表相连,而与高压电极相连的导线用于串联样品或连接高压电源;其中,测试电极为圆形的,所述高压电极为环形;
2)将布置完双层介质试样放入界面施压装置,旋转螺母使得弹簧给试样的界面施加指定的压力,将布置完的双层介质试样和界面施压装置视为一个模块,各个模块通过与高压电极相连的导线并联,最后一个模块的高压电极连接高压电源;
3)每个双层介质试样中的测试电极中的导线与开关控制程序相连,将并联完成的界面试样单元放入鼓风干燥箱中,调节试验老化温度。
9.根据权利要求6所述的一种双层介质界面联合老化及实时界面介电特性测量装置的测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
1)通过计算机控制开关控制程序,将偶数序号的开关闭合与皮安表相连,而其余的双层介质试样均接地短路;
2)极化T时间后,将最后t时间内的电流平均值为界面极化电流值,以得到待测双层介质试样的界面电阻率。
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