[发明专利]膜间距识别方法、装置、电子设备和可读存储介质

说明书

本申请提供膜间距识别方法、装置、电子设备和可读存储介质。该方法包括获取两个膜交界处的图像；通过边缘检测工具对所述图像进行处理，以获取多条膜间边界直线；从所述的多条膜间边界直线中筛选出外直线；利用所述外直线之外的膜间边界直线上的点到所述外直线的距离，确定两个膜的膜间距。因此该方法能够用于两个膜的膜间距的识别。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，具体而言，涉及膜间距识别方法、装置、电子设备和可读存储介质。

背景技术

在工业生产、机器视觉检测、航空航天等领域中，通常需要在物体的表面或空腔处布设多层的膜，并将这些膜之间的距离(即膜间距)控制在一定范围，从而利用所布设这些膜，实现过滤、阻隔等效果。因此，为了将膜间距控制在一定范围，对膜间距进行识别至关重要。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种膜间距识别方法、装置、电子设备和可读存储介质，能够用以识别膜间距。

本申请实施例第一方面提供了一种膜间距识别方法，包括：

获取两个膜交界处的图像；

通过边缘检测工具对所述图像进行处理，以获取多条膜间边界直线；

从所述的多条膜间边界直线中筛选出外直线；

利用所述外直线之外的膜间边界直线上的点到所述外直线的距离，确定两个膜的膜间距。

于一实施例中，通过边缘检测工具对所述图像进行处理，以获取多条膜间边界直线，具体包括：通过EDLine对所述图像进行处理，以获取多条膜间边界直线。

于一实施例中，在从所述的多条膜间边界直线中筛选出外直线之前，所述方法还包括：

将所述的多条膜间边界直线中，斜率超出预设范围的膜间边界直线删除；以及，

从所述的多条膜间边界直线中筛选出外直线，具体包括：

从删除后所剩的膜间边界直线中筛选出外直线。

于一实施例中，将所述的多条膜间边界直线中，斜率超出预设范围的膜间边界直线删除，具体包括：

分别针对各多条膜间边界直线，利用所述膜间边界直线上的点的坐标计算出所述膜间边界直线的斜率，并判断所述斜率是否超出预设范围；其中，在所述斜率超出所述预设范围的情况下，则删除所述膜间边界直线；或，在所述斜率未超出所述预设范围的情况下，则保留所述膜间边界直线。

于一实施例中，从所述的多条膜间边界直线中筛选出外直线，具体包括：

确定各条膜间边界直线中，两两之间的平行率；

分别针对各条膜间边界直线，确定所述膜间边界直线所对应的目标平行率的数量；其中，所述目标平行率具体为取值属于目标区间的平行率；

将目标平行率的数量最多的膜间边界直线，确定为外直线。

于一实施例中，确定各条膜间边界直线中，两两之间的平行率，具体包括：

依次针对各条膜间边界直线中的两条膜间边界直线，利用所述的两条膜间边界直线上的点的坐标，生成两条膜间边界直线分别对应的向量；

计算所述的两条膜间边界直线分别对应的向量之间的余弦相似度，并将所述余弦相似度作为所述的两条膜间边界直线之间的平行率。

于一实施例中，利用所述外直线之外的膜间边界直线上的点到所述外直线的距离，确定两个膜的膜间距，具体包括：

分别针对外直线之外的各个膜间边界直线，计算所述膜间边界直线上的点到所述外直线的距离；

将所述的各个距离中的最大距离或平均值，确定为两个膜的膜间距。