[发明专利]偏振片透偏方向对准系统及方法有效
申请号: | 202310512310.0 | 申请日: | 2023-05-09 |
公开(公告)号: | CN116224572B | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 张朋;李琼;王妍洁;吴正容;刘建;陈宜稳;张银辉;王洪刚;蔡文炳;徐小琴;赵学军 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军63921部队 |
主分类号: | G02B26/06 | 分类号: | G02B26/06;G02B27/09 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 姚大雷 |
地址: | 100094*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 偏振 偏方 对准 系统 方法 | ||
1.一种偏振片透偏方向对准系统,其特征在于,所述系统包括第一偏振片、锥光调节装置、单轴晶体、第二偏振片、采集处理设备;
所述第一偏振片用于基于当前所述第一偏振片的旋转角度对接收到的初始激光进行偏振调节,得到偏振光并将所述偏振光发射到所述锥光调节装置;
所述锥光调节装置用于将所述偏振光转换为偏振锥光,并将所述偏振锥光发射到所述单轴晶体;所述单轴晶体基于双折射特性和所述偏振锥光产生第一折射光和第二折射光,并将所述第一折射光和所述第二折射光发射到所述第二偏振片;
所述第二偏振片用于基于当前所述第二偏振片的旋转角度对所述第一折射光和所述第二折射光进行偏振调节,并将调节后的第一折射光和调节后的第二折射光发射到所述采集处理设备;
所述采集处理设备用于将所述调节后的第一折射光和所述调节后的第二折射光转换为目标电信号,并基于所述目标电信号得到锥光干涉图样;以及,提取所述锥光干涉图样中的特征信息,根据所述特征信息确定所述第一偏振片和所述第二偏振片是否对准,以记录所述第一偏振片和所述第二偏振片对准时所述第一偏振片的第一旋转角度和所述第二偏振片的第二旋转角度;以及,控制所述第一偏振片保持在所述第一旋转角度、所述第二偏振片保持在所述第二旋转角度,以实现所述第一偏振片的透偏方向和所述第二偏振片的透偏方向对准。
2.如权利要求1所述的偏振片透偏方向对准系统,其特征在于,所述系统还包括:第一旋转安装座、第二旋转安装座以及驱动控制装置;
所述第一旋转安装座用于安装所述第一偏振片,并调整所述第一偏振片的旋转角度;
所述第二旋转安装座用于安装所述第二偏振片,并调整所述第二偏振片的旋转角度;
所述第一旋转安装座和所述第二旋转安装座上分别设置有测量装置,所述测量装置用于测量所述第一偏振片和/或所述第二偏振片的旋转角度;
所述驱动控制装置用于在所述采集处理设备的控制下驱动所述第一旋转安装座和/或所述第二旋转安装座旋转,以调节所述第一偏振片的透偏方向和/或所述第二偏振片的透偏方向。
3.如权利要求1所述的偏振片透偏方向对准系统,其特征在于,所述采集处理设备包括光学相机和处理装置;
所述光学相机用于将所述调节后的第一折射光和所述调节后的第二折射光转换为所述目标电信号、根据所述目标电信号生成所述锥光干涉图样并将所述锥光干涉图样发送给所述处理装置;
所述处理装置用于提取所述锥光干涉图样中的特征信息,根据所述特征信息确定所述第一偏振片和所述第二偏振片是否对准,以记录所述第一偏振片和所述第二偏振片对准时所述第一偏振片的第一旋转角度和所述第二偏振片的第二旋转角度;以及,控制所述第一偏振片保持在所述第一旋转角度、所述第二偏振片保持在所述第二旋转角度。
4.如权利要求1所述的偏振片透偏方向对准系统,其特征在于,所述系统还包括光学整形模块;
所述光学整形模块设置在激光发射装置和所述第一偏振片之间;
所述光学整形模块用于对所述初始激光进行整形处理,得到整形后的初始激光并发射到所述第一偏振片,所述整形处理包括如下至少一项:滤光、扩束、准直和/或调整光斑大小;
所述第一偏振片具体用于对所述整形后的初始激光进行偏振调节以得到偏振光。
5.如权利要求4所述的偏振片透偏方向对准系统,其特征在于,所述光学整形模块包括显微物镜、第一光阑、第一透镜;
所述显微物镜用于对所述初始激光进行滤光处理,并将滤光处理后的初始激光发射到所述第一光阑;
所述第一光阑用于对滤光处理后的初始激光进行扩束处理,并将扩束处理后的初始激光发射到所述第一透镜;
所述第一透镜用于对扩束处理后的初始激光进行准直处理,得到准直处理后的初始激光并发射到所述第一偏振片;
其中,所述准直处理后的初始激光为所述整形后的初始激光,所述显微物镜和所述第一透镜共焦,且所述第一光阑设置在所述显微物镜的焦点所在位置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军63921部队,未经中国人民解放军63921部队许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202310512310.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:偏振调制设备的对准系统及方法
- 下一篇:电光晶体光轴对准系统及方法