[发明专利]一种4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法

权利要求书

1.一种4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

对待测试的4J33可伐合金的样品进行处理，得到退火态无应力试样以及预加等双轴已知应力的试样；

将所述退火态无应力试样以及所述预加等双轴已知应力的试样装入纳米压痕仪，以待测点为圆心，以2倍晶粒平均尺寸为半径，对进入标记圆内的晶粒进行纳米压痕实验，得到所述标记圆中每个晶粒内压入的所有压痕数据；所述标记圆为用于晶粒选取所标记的圆；

分别对所述标记圆中每个晶粒内压入的所有压痕数据取平均值，得到所述标记圆中每个晶粒对应的压痕数据平均值；

对所述标记圆中所有晶粒对应的压痕数据平均值加和后再求平均值，得到所述标记圆中所有晶粒对应的压痕数据平均值；

将所述标记圆中所有晶粒对应的压痕数据平均值代入残余应力的计算模型中，得到第二类残余应力。

2.根据权利要求1所述的4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，其特征在于，所述对待测试的4J33可伐合金的样品进行处理，得到退火态无应力试样以及预加等双轴已知应力的试样，具体包括：

将待测试的4J33可伐合金的样品进行磨抛处理后，再进行电解抛光处理，得到退火态无应力试样以及预加等双轴已知应力的试样。

3.根据权利要求1所述的4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，其特征在于，对进入所述标记圆内的晶粒进行纳米压痕实验时，每一个压入点所采取的实验参数完全相同；所述压入点为对所述标记圆中的晶粒进行纳米压入的点。

4.根据权利要求3所述的4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，其特征在于，所述实验参数包括加载速度、保载时间和卸载速度。

5.根据权利要求1所述的4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，其特征在于，对进入所述标记圆内的晶粒进行纳米压痕实验时，所述标记圆中每个晶粒内压入n个压痕；n的取值满足所述晶粒内压入的前n-1个压痕数据的平均值与n个压痕数据的平均值偏差小于或等于5％。

6.根据权利要求1所述的4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，其特征在于，当晶粒70％以上的面积位于所述标记圆中，确定所述晶粒进入所述标记圆内。

7.根据权利要求1所述的4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，其特征在于，所述残余应力的计算模型为Suresh模型。

8.根据权利要求1所述的4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，其特征在于，所述预加等双轴已知应力的试样通过应力预加工装置获得。

9.根据权利要求1所述的4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，其特征在于，所述压痕数据包括硬度、弹性模量、接触面积和接触深度。