[发明专利]信号的校正方法、读出方法、装置、探测器及成像设备

说明书

本公开提供了一种信号的校正方法、读出方法、装置、探测器及成像设备，所述校正方法包括：将预设电荷量施加至读出电容，得到对应于预设电荷量的电容数据；所述预设电荷量的大小可调节；所述电容数据包括：施加所述预设电荷量的过程中所述读出电容的翻转总数和施加所述预设电荷量前后所述读出电容的电位差；对于各所述电容数据，根据所述预设电荷量、所述翻转总数和所述电位差确定所述读出电容的电荷容量；构建所述翻转总数和所述电荷容量的对应关系，所述对应关系用于对所述读出电路采集的信号进行校正。通过对读出电容在进行信号读出过程中的电容容量进行校正，以确定在成像过程中变化的电荷容量，并提升信号读出的准确性，进而提升成像质量。

技术领域

本公开涉及成像领域，尤其涉及一种信号的校正方法、读出方法、装置、探测器及成像设备。

背景技术

在CT(计算机断层扫描)系统中，EID(能量积分探测器)通过ASIC(专用集成电路芯片)来测量每个像素位置在一定时间间隔内的总电荷量，以确定每个像素位置采集到的信号。

由于CT系统需要ASIC具有高精度、宽量程的能力，在芯片模拟前端(reset型前置放大器)设计时，ASIC的读出电容Cf的电荷容量要远小于每次成像时的积分电荷量，因此，在一次积分时间间隔内，读出电容的电位将可能发生多次翻转，每次翻转时读出电容对应的电荷容量会随着输入电流的变化而改变。因此，如果采用统一的电荷容量来测量每个像素位置的总电荷量，会导致信号的采集不准确，进而影响成像结果。

公开内容

本公开要解决的技术问题是为了克服现有技术中每次翻转读出电容的电荷容量发生变化导致成像结果不准确的缺陷，提供一种信号的校正方法、成像方法、系统、设备及介质。

本公开是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

第一方面，提供一种信号的校正方法，应用于读出电路，所述读出电路包括读出电容，所述校正方法包括：

将预设电荷量施加至读出电容，得到对应于预设电荷量的电容数据；所述预设电荷量的大小可调节；所述电容数据包括：施加所述预设电荷量的过程中所述读出电容的翻转总数和施加所述预设电荷量前后所述读出电容的电位差；

对于各所述电容数据，根据所述预设电荷量、所述翻转总数和所述电位差确定所述读出电容的电荷容量；

构建所述翻转总数和所述电荷容量的对应关系，所述对应关系用于对所述读出电路采集的信号进行校正。

可选地，所述翻转总数包括每次施加所述预设电荷量后所述读出电容的翻转次数。

可选地，所述电位差根据每次施加所述预设电荷量后所述读出电容的电位减去上一次施加所述预设电荷量后所述读出电容的电位得到。

可选地，所述预设电荷量包含小于所述读出电容的标准电荷量的一半的小电荷量，和大于所述读出电容的标准电荷量的一半并小于所述标准电荷量的大电荷量中的至少一种或多种。

可选地，构建所述翻转总数和所述电荷容量的对应关系，包括：

从多组所述翻转总数和电荷容量的数据中选取至少一组对应的数据，以构建所述翻转总数与电荷容量的对应关系，所述电荷容量与所述翻转总数呈正相关。

第二方面，提供一种信号的读出方法，应用于读出电路，所述读出电路包括读出电容，所述读出方法包括：

获取所述读出电容的实际翻转总数和实际前后电位差；

根据翻转总数与电荷容量的对应关系，确定所述读出电容在每次信号读出时的实际电荷容量，所述对应关系根据如第一方面所述的信号的校正方法确定；