[发明专利]一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202310574774.4 申请日: 2023-05-19
公开(公告)号: CN116623138A 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 谢明强;施杰;胡恒宁;周彤;杜昊;李潇阳;康建军;刘浩 申请(专利权)人: 成都工具研究所有限公司;贵州大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06
代理公司: 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217 代理人: 冉剑侠
地址: 610000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 hfmonbzr 合金 氮化物 薄膜 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜,其特征在于:以HfMoNbZr四元合金作为靶材,以硬质合金块体和硅片作为基体经磁控溅射沉积获得,薄膜中各元素原子百分含量为Hf 12%~14%、Mo 13%~15%、Nb 11%~14%、Zr 11%~14%、N 45%~50%。

2.根据权利要求1所述的一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜,其特征在于:薄膜具有面心立方结构和体心四方结构,且断口形貌表现为柱状晶结构。

3.根据权利要求2所述的一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜,其特征在于:薄膜的硬度为29~30GPa,弹性模量为310~317GPa,磨损率为6.19×10-15m3·N-1·m-1

4.根据权利要求3所述的一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜,其特征在于:HfMoNbZr四元合金靶的纯度>99.99%,HfMoNbZr四元合金靶中原子比为1:1:1:1。

5.根据权利要求4所述的一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜,其特征在于:所述硅片和硬质合金块体均经过单面抛光。

6.根据权利要求5所述的一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜,其特征在于:所述磁控溅射使用的电源为直流电源。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤一、对硬质合金块体进行抛光处理;

步骤二、去除硬质合金块体和硅片基体表面的油污和粘结剂;

步骤三、薄膜沉积:在真空条件下,以HfMoNbZr四元合金为靶材、硬质合金块体和硅片为基体,通入惰性气体氩气和反应气体氮气进行薄膜沉积。

8.根据权利要求7所述的一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜的制备方法,其特征在于:步骤二中,去除油污和粘结剂的具体操作为:将硬质合金块体和硅片基体用去离子水冲洗后,依次使用石油醚和无水乙醇在频率为30kHz超声波中分别清洗15~30min。

9.根据权利要求7所述的一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜的制备方法,其特征在于:步骤三中,薄膜沉积的条件为:四元合金靶材与硅片基体之间的距离为8~11mm,本底真空度低于2×10-3Pa,加热温度≥500℃,沉积时间120min,磁控溅射功率190-210W,氩气和氮气流量分别为30~34sccm和6~10sccm,氩气和氮气的气体纯度均≥99.99%。

10.根据权利要求1-6任一所述的一种双相HfMoNbZr高熵合金氮化物薄膜在制备刀具以及模具表面保护层中的应用。

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