[发明专利]一种薄层Pt金属电极的溅射生长方法在审

专利信息
申请号: 202310577530.1 申请日: 2023-05-22
公开(公告)号: CN116623139A 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 张向锋;贺琦璐;张利学;丁嘉欣;陶飞;陈刚;王三煜;毛思雨 申请(专利权)人: 中航凯迈(上海)红外科技有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/16;C23C14/54
代理公司: 洛阳市凯旋专利事务所(普通合伙) 41112 代理人: 冯雯雯
地址: 201311 上海市浦东新区中国(上海)*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 薄层 pt 金属电极 溅射 生长 方法
【权利要求书】:

1.一种薄层Pt金属电极的溅射生长方法,其特征在于,具体步骤为:

S1:打开磁控溅射台设备及控制程序操作界面,打开溅射腔体门,将试验样片放入溅射台溅射腔体内合适位置,关闭腔体门;打开控制程序操作界面,在手动操作模式下设置溅射功率40 W -50 W;

S2:手动操作将溅射腔体抽真空至不高于3×10-4Torr,然后关闭所有阀门,再以10sccm的流量向腔体内通入高纯Ar气,腔体压力达到2×10-2 Torr -3×10-2 Torr后停止通气,该腔体压力条件下能够保证靶材连续起辉150s以上;

S3:手动操作Pt电极靶材起辉溅射,计时溅射30s-50s后关闭起辉;从腔体中取出试验样片,测量样片上Pt电极厚度;依据公式:溅射速率=电极厚度/溅射时间,计算出溅射速率;

S4:在溅射功率和腔体压力不变的条件下,根据正片需要的电极厚度,依据公式:溅射时间=电极厚度/溅射速率,计算出正片金属薄层电极生长所需的准确的溅射时间;

S5:根据S4的计算结果,设定溅射时间,控制精确的电极厚度,将正片放入溅射台腔体内,对正片进行电极生长;

S6:电极制备完成后,在真空条件下通过退火方式改善金属电极接触特性,提高金属电极的可靠性。

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