[发明专利]测试设备、校准系统及校准方法

权利要求书

1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括电性连接的信号处理芯片及信号提供与处理单元，所述信号提供与处理单元与待校准的目标相控阵天线电性连接，

所述信号提供与处理单元用于生成第一射频信号，并向所述目标相控阵天线输出所述第一射频信号；

所述信号提供与处理单元还用于接收所述目标相控阵天线基于所述第一射频信号发送的第二射频信号，并将通过对所述第二射频信号进行处理得到的第三射频信号发送给所述信号处理芯片；

所述信号处理芯片用于将所述第三射频信号转换为数字信号，并根据转换后的数字信号获得用于对所述目标相控阵天线进行校准的幅度和/或相位。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括电源处理单元，

所述电源处理单元与所述目标相控阵天线电性连接，所述电源处理单元用于根据校准控制设备发送的电压调节指令，对由电源设备提供的电能的电压进行处理，以向所述目标相控阵天线提供具有所述目标相控阵天线所需的目标工作电压的电能，其中，所述电压调节指令用于指示将电压调节为所述目标工作电压。

3.根据权利要求1-2中任意一项所述的测试设备，其特征在于，所述信号提供与处理单元包括中频信号产生子单元、本振信号产生子单元及第一混频器，

所述中频信号产生子单元用于产生目标中频信号；

所述本振信号产生子单元用于产生目标本振信号；

所述第一混频器与所述中频信号产生子单元及本振信号产生子单元电性连接，用于对所述目标中频信号及目标本振信号进行上变频处理，得到所述第一射频信号，其中，所述第一射频信号的频率在所述目标相控阵天线的工作频率范围内。

4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述中频信号产生子单元及本振信号产生子单元具体用于根据校准控制设备发送的频率控制指令生成射频信号，所述频率控制指令由所述校准控制设备根据所述目标相控阵天线的工作频率范围、中频信号产生子单元可产生的信号的频率范围及本振信号产生子单元可产生的信号的频率范围生成。

5.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述信号提供与处理单元还包括第二混频器，

所述第二混频器与所述目标相控阵天线、本振信号产生子单元及信号处理芯片电性连接，所述第二混频器用于对所述目标本振信号及第二射频信号进行下变频处理，得到所述第二射频信号，并将所述第二射频信号发送给所述信号处理芯片。

6.根据权利要求1-2中任意一项所述的测试设备，其特征在于，所述信号处理芯片与校准控制设备及所述目标相控阵天线通信连接，所述信号处理芯片还用于将接收到的由所述校准控制设备发送的天线控制指令发送给所述目标相控阵天线，以使所述目标相控阵天线执行所述天线控制指令以进行校准。

7.一种校准系统，其特征在于，所述系统包括：电源设备、校准控制设备及权利要求1-6中任意一项所述的测试设备；

所述电源设备与所述测试设备电性连接，用于向所述测试设备提供电能；

所述校准控制设备与所述信号处理芯片及待校准的目标相控阵天线通信连接，用于对所述信号处理芯片及所述目标相控阵天线的工作状态进行控制，以及通过所述信号处理芯片获得用于对所述目标相控阵天线进行校准的幅度和/或相位，并根据获得的幅度和/或相位获得所述目标相控阵天线对应的目标幅度和/或目标相位。